XRD studies of surface layers in sapphire substrates of <101Bar2> crystalloghaphic orientation

XRD studies of surface layers in sapphire substrates of <101Bar2> crystalloghaphic orientation

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2011
Автори: Tkachenko, V.F., Lukienko, O.A., Budnikov, A.T., Vovk, E.A., Krivonogov, S.I., Dan`ko, A.Ya.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2011
Назва видання:Functional Materials
Теми:
Characterization and properties
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/135460
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:XRD studies of surface layers in sapphire substrates of <101Bar2> crystalloghaphic orientation / V.F. Tkachenko, O.A. Lukienko, A.T. Budnikov, E.A. Vovk, S.I. Krivonogov, A.Ya. Dan`ko // Functional Materials. — 2011. — Т. 18, № 2. — С. 171-175. — Бібліогр.: 9 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Схожі ресурси

Схожі ресурси