Optical properties of Ge-As-S thin films

Thin Ge-As-S films have been prepared by thermal vacuum evaporation. Optical parameters and thickness values of the films have been calculated basing on transmission spectra. The dispersion dependences of the refractive index have been shown to be described well by the single oscillator model. The o...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2009
Автори: Tolmachov, I.D., Stronski, A.V.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2009
Назва видання:Functional Materials
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/136625
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Optical properties of Ge-As-S thin films // I.D. Tolmachov, A.V. Stronski // Functional Materials. — 2009. — Т. 16, № 1. — С. 32-35. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine