Optical properties of Ge-As-S thin films
Thin Ge-As-S films have been prepared by thermal vacuum evaporation. Optical parameters and thickness values of the films have been calculated basing on transmission spectra. The dispersion dependences of the refractive index have been shown to be described well by the single oscillator model. The o...
Збережено в:
| Дата: | 2009 |
|---|---|
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2009
|
| Назва видання: | Functional Materials |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/136625 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Optical properties of Ge-As-S thin films // I.D. Tolmachov, A.V. Stronski // Functional Materials. — 2009. — Т. 16, № 1. — С. 32-35. — Бібліогр.: 6 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-136625 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-1366252018-06-17T03:08:23Z Optical properties of Ge-As-S thin films Tolmachov, I.D. Stronski, A.V. Characterization and properties Thin Ge-As-S films have been prepared by thermal vacuum evaporation. Optical parameters and thickness values of the films have been calculated basing on transmission spectra. The dispersion dependences of the refractive index have been shown to be described well by the single oscillator model. The optical band gap width has been determined using the Tauc dependence. The non-linear optical properties of the films have been estimated basing on the data obtained. Методом термічного вакуумного випаровування отримано тонкі плівки складу Ge-As-S. Із спектрів пропускання розраховані оптичні сталі та товщини плівок. Показано, що дисперсійні залежності показника заломлення добре описуються одноосциляторною моделлю. 3а допомогою залежності Тауца визначено ширину оптичної забороненої зони. На основі отриманих даних проведено оцінку нелінійних оптичних властивостей плівок. Методом термического вакуумного испарения получены тонкие пленки состава Ge-As-S. Из спектров пропускания рассчитаны толщины пленок и оптические постоянные. Показано, что дисперсионные зависимости показателя преломления хорошо описываются одноосцилляторной моделью. С помощью зависимости Тауца определена ширина оптический запрещенной зоны. На основании полученных данных проведена оценка нелинейных оптических свойств пленок. 2009 Article Optical properties of Ge-As-S thin films // I.D. Tolmachov, A.V. Stronski // Functional Materials. — 2009. — Т. 16, № 1. — С. 32-35. — Бібліогр.: 6 назв. — англ. 1027-5495 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/136625 en Functional Materials НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
English |
| topic |
Characterization and properties Characterization and properties |
| spellingShingle |
Characterization and properties Characterization and properties Tolmachov, I.D. Stronski, A.V. Optical properties of Ge-As-S thin films Functional Materials |
| description |
Thin Ge-As-S films have been prepared by thermal vacuum evaporation. Optical parameters and thickness values of the films have been calculated basing on transmission spectra. The dispersion dependences of the refractive index have been shown to be described well by the single oscillator model. The optical band gap width has been determined using the Tauc dependence. The non-linear optical properties of the films have been estimated basing on the data obtained. |
| format |
Article |
| author |
Tolmachov, I.D. Stronski, A.V. |
| author_facet |
Tolmachov, I.D. Stronski, A.V. |
| author_sort |
Tolmachov, I.D. |
| title |
Optical properties of Ge-As-S thin films |
| title_short |
Optical properties of Ge-As-S thin films |
| title_full |
Optical properties of Ge-As-S thin films |
| title_fullStr |
Optical properties of Ge-As-S thin films |
| title_full_unstemmed |
Optical properties of Ge-As-S thin films |
| title_sort |
optical properties of ge-as-s thin films |
| publisher |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
| publishDate |
2009 |
| topic_facet |
Characterization and properties |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/136625 |
| citation_txt |
Optical properties of Ge-As-S thin films // I.D. Tolmachov, A.V. Stronski // Functional Materials. — 2009. — Т. 16, № 1. — С. 32-35. — Бібліогр.: 6 назв. — англ. |
| series |
Functional Materials |
| work_keys_str_mv |
AT tolmachovid opticalpropertiesofgeassthinfilms AT stronskiav opticalpropertiesofgeassthinfilms |
| first_indexed |
2023-10-18T21:14:24Z |
| last_indexed |
2023-10-18T21:14:24Z |
| _version_ |
1796152296026931200 |