Exchange coupling peculiarities in ultrathin Fe/Cu/Tb film structures on Si substrates
Exchange coupling in ultrathin Fe(8 A)/[Cu/Tb (12 A) film structure has been studied. The film samples were prepared on Si substrates by electron-beam evaporation in an ultrahigh vacuum system having a background pressure of =10⁻⁹ Torr. To suppress formation of Fe-silicide on Si/Fe interface, a buff...
Збережено в:
Дата: | 2004 |
---|---|
Автори: | , |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2004
|
Назва видання: | Functional Materials |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/139474 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Exchange coupling peculiarities in ultrathin Fe/Cu/Tb film structures on Si substrates / Ye.O. Pogoryelov, D.I. Podyalovski // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 3. — С. 560-562. — Бібліогр.: 12 назв. — англ. |