Exchange coupling peculiarities in ultrathin Fe/Cu/Tb film structures on Si substrates

Exchange coupling in ultrathin Fe(8 A)/[Cu/Tb (12 A) film structure has been studied. The film samples were prepared on Si substrates by electron-beam evaporation in an ultrahigh vacuum system having a background pressure of =10⁻⁹ Torr. To suppress formation of Fe-silicide on Si/Fe interface, a buff...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2004
Автори: Pogoryelov, Ye.O., Podyalovski, D.I.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2004
Назва видання:Functional Materials
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/139474
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Exchange coupling peculiarities in ultrathin Fe/Cu/Tb film structures on Si substrates / Ye.O. Pogoryelov, D.I. Podyalovski // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 3. — С. 560-562. — Бібліогр.: 12 назв. — англ.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine