Influence of Si substrate and interface quality on exchange interactions in ultrathin Fe/NM/Tb film structure
Досліджено тришарові плівкові структури Fe (8 A)/NM/Tb(12 A) (NM = Au, Си), виготовлені на кремнієвій підкладці методом електронно-променевого напилювання в надвисоковакуумній системі при тиску залишкових газів ==10 9 Тор. Структуру зразків досліджували методами рентгенівської дифрактометрії та Оже-...
Збережено в:
| Видавець: | НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
|---|---|
| Дата: | 2005 |
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2005
|
| Назва видання: | Functional Materials |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/139697 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Цитувати: | Influence of Si substrate and interface quality on exchange interactions in ultrathin Fe/NM/Tb film structure / Ye.A. Pogoryelov, V.M. Adeev, V.I. Bondar // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 1. — С. 120-123. — Бібліогр.: 8 назв. — англ. |