Influence of Si substrate and interface quality on exchange interactions in ultrathin Fe/NM/Tb film structure

• Видавець: НТК «Інститут монокристалів» НАН України
• Дата: 2005
• Автори: Pogoryelov, Ye.A., Adeev, V.M., Bondar, V.I.
• Формат: Стаття
• Мова: English
• Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2005
• Назва видання: Functional Materials
• Онлайн доступ: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/139697
• Цитувати: Influence of Si substrate and interface quality on exchange interactions in ultrathin Fe/NM/Tb film structure / Ye.A. Pogoryelov, V.M. Adeev, V.I. Bondar // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 1. — С. 120-123. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.

Досліджено тришарові плівкові структури Fe (8 A)/NM/Tb(12 A) (NM = Au, Си), виготовлені на кремнієвій підкладці методом електронно-променевого напилювання в надвисоковакуумній системі при тиску залишкових газів ==10 9 Тор. Структуру зразків досліджували методами рентгенівської дифрактометрії та Оже-спектроскопії. Магнітні властивості плівок досліджували за допомогою традиційного полярного магнітооптичного ефекту Керра. Рентгенівські дослідження показали, що на поверхні розділу Si/Fe утворюється силіцид заліза, близький за структурою до Fe3Si. Згідно з даними магнітооптичних досліджень, утворення Fe-силіциду призводить до зникнення короткоперіо-дичних осциляцій обмінної взаємодії між шарами Fe та ТЬ. Для запобігання утворенню силіциду на підкладки попередньо наносили буферний шар Au (З А) або Си (10 А). Це призвело до появи короткоперіодичних осциляцій. Проте, згідно даних Оже-спектро-скопії, такої товщини буферних шарів все ще недостатньо для повного запобігання взаємодії кремнію та заліза.