Influence of Si substrate and interface quality on exchange interactions in ultrathin Fe/NM/Tb film structure

Досліджено тришарові плівкові структури Fe (8 A)/NM/Tb(12 A) (NM = Au, Си), виготовлені на кремнієвій підкладці методом електронно-променевого напилювання в надвисоковакуумній системі при тиску залишкових газів ==10 9 Тор. Структуру зразків досліджували методами рентгенівської дифрактометрії та Оже-...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Видавець:НТК «Інститут монокристалів» НАН України
Дата:2005
Автори: Pogoryelov, Ye.A., Adeev, V.M., Bondar, V.I.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2005
Назва видання:Functional Materials
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/139697
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Цитувати:Influence of Si substrate and interface quality on exchange interactions in ultrathin Fe/NM/Tb film structure / Ye.A. Pogoryelov, V.M. Adeev, V.I. Bondar // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 1. — С. 120-123. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-139697
record_format dspace
spelling irk-123456789-1396972018-06-22T03:04:33Z Influence of Si substrate and interface quality on exchange interactions in ultrathin Fe/NM/Tb film structure Pogoryelov, Ye.A. Adeev, V.M. Bondar, V.I. Досліджено тришарові плівкові структури Fe (8 A)/NM/Tb(12 A) (NM = Au, Си), виготовлені на кремнієвій підкладці методом електронно-променевого напилювання в надвисоковакуумній системі при тиску залишкових газів ==10 9 Тор. Структуру зразків досліджували методами рентгенівської дифрактометрії та Оже-спектроскопії. Магнітні властивості плівок досліджували за допомогою традиційного полярного магнітооптичного ефекту Керра. Рентгенівські дослідження показали, що на поверхні розділу Si/Fe утворюється силіцид заліза, близький за структурою до Fe3Si. Згідно з даними магнітооптичних досліджень, утворення Fe-силіциду призводить до зникнення короткоперіо-дичних осциляцій обмінної взаємодії між шарами Fe та ТЬ. Для запобігання утворенню силіциду на підкладки попередньо наносили буферний шар Au (З А) або Си (10 А). Це призвело до появи короткоперіодичних осциляцій. Проте, згідно даних Оже-спектро-скопії, такої товщини буферних шарів все ще недостатньо для повного запобігання взаємодії кремнію та заліза. Исследованы трехслойные пленочные структуры Fe (8 A)/NM/Tb(12 A) (NM = Au, Cu) на кремниевой подложке, изготовленные методом электронно-лучевого напыления в сверхвысоковакуумной системе при давлении остаточных газов ==10 9 Тор. Структуру образцов исследовали методами рентгеновской дифрактометрии и Оже-спектроскопии. Магнитные свойства пленок исследовали с помощью традиционного полярного магнитооптического эффекта Керра. Рентгеновские исследования показали, что на поверхности раздела Si/Fe образуется силицид железа, близкий по структуре к Fe3Si. Согласно данным магнитооптических исследований, образование Fe-силицида приводит к исчезновению короткопериоди-че-ских осцилляций обменного взаимодействия между слоями Fe и ТЬ. Для предотвращения образования силицида на подложки предварительно наносили буферный слой Au (3 А) или Си (10 А). Это привело к появлению короткопериодических осцилляций. Однако, согласно данным Оже-спектроскопии, такая толщина буферных слоев все еще недостаточна для полного предотвращения взаимодействия кремния и железа. Досліджено тришарові плівкові структури Fe (8 A)/NM/Tb(12 A) (NM = Au, Си), виготовлені на кремнієвій підкладці методом електронно-променевого напилювання в надвисоковакуумній системі при тиску залишкових газів ==10 9 Тор. Структуру зразків досліджували методами рентгенівської дифрактометрії та Оже-спектроскопії. Магнітні властивості плівок досліджували за допомогою традиційного полярного магнітооптичного ефекту Керра. Рентгенівські дослідження показали, що на поверхні розділу Si/Fe утворюється силіцид заліза, близький за структурою до Fe3Si. Згідно з даними магнітооптичних досліджень, утворення Fe-силіциду призводить до зникнення короткоперіо-дичних осциляцій обмінної взаємодії між шарами Fe та ТЬ. Для запобігання утворенню силіциду на підкладки попередньо наносили буферний шар Au (З А) або Си (10 А). Це призвело до появи короткоперіодичних осциляцій. Проте, згідно даних Оже-спектро-скопії, такої товщини буферних шарів все ще недостатньо для повного запобігання взаємодії кремнію та заліза. 2005 Article Influence of Si substrate and interface quality on exchange interactions in ultrathin Fe/NM/Tb film structure / Ye.A. Pogoryelov, V.M. Adeev, V.I. Bondar // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 1. — С. 120-123. — Бібліогр.: 8 назв. — англ. 1027-5495 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/139697 en Functional Materials НТК «Інститут монокристалів» НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language English
description Досліджено тришарові плівкові структури Fe (8 A)/NM/Tb(12 A) (NM = Au, Си), виготовлені на кремнієвій підкладці методом електронно-променевого напилювання в надвисоковакуумній системі при тиску залишкових газів ==10 9 Тор. Структуру зразків досліджували методами рентгенівської дифрактометрії та Оже-спектроскопії. Магнітні властивості плівок досліджували за допомогою традиційного полярного магнітооптичного ефекту Керра. Рентгенівські дослідження показали, що на поверхні розділу Si/Fe утворюється силіцид заліза, близький за структурою до Fe3Si. Згідно з даними магнітооптичних досліджень, утворення Fe-силіциду призводить до зникнення короткоперіо-дичних осциляцій обмінної взаємодії між шарами Fe та ТЬ. Для запобігання утворенню силіциду на підкладки попередньо наносили буферний шар Au (З А) або Си (10 А). Це призвело до появи короткоперіодичних осциляцій. Проте, згідно даних Оже-спектро-скопії, такої товщини буферних шарів все ще недостатньо для повного запобігання взаємодії кремнію та заліза.
format Article
author Pogoryelov, Ye.A.
Adeev, V.M.
Bondar, V.I.
spellingShingle Pogoryelov, Ye.A.
Adeev, V.M.
Bondar, V.I.
Influence of Si substrate and interface quality on exchange interactions in ultrathin Fe/NM/Tb film structure
Functional Materials
author_facet Pogoryelov, Ye.A.
Adeev, V.M.
Bondar, V.I.
author_sort Pogoryelov, Ye.A.
title Influence of Si substrate and interface quality on exchange interactions in ultrathin Fe/NM/Tb film structure
title_short Influence of Si substrate and interface quality on exchange interactions in ultrathin Fe/NM/Tb film structure
title_full Influence of Si substrate and interface quality on exchange interactions in ultrathin Fe/NM/Tb film structure
title_fullStr Influence of Si substrate and interface quality on exchange interactions in ultrathin Fe/NM/Tb film structure
title_full_unstemmed Influence of Si substrate and interface quality on exchange interactions in ultrathin Fe/NM/Tb film structure
title_sort influence of si substrate and interface quality on exchange interactions in ultrathin fe/nm/tb film structure
publisher НТК «Інститут монокристалів» НАН України
publishDate 2005
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/139697
citation_txt Influence of Si substrate and interface quality on exchange interactions in ultrathin Fe/NM/Tb film structure / Ye.A. Pogoryelov, V.M. Adeev, V.I. Bondar // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 1. — С. 120-123. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.
series Functional Materials
work_keys_str_mv AT pogoryelovyea influenceofsisubstrateandinterfacequalityonexchangeinteractionsinultrathinfenmtbfilmstructure
AT adeevvm influenceofsisubstrateandinterfacequalityonexchangeinteractionsinultrathinfenmtbfilmstructure
AT bondarvi influenceofsisubstrateandinterfacequalityonexchangeinteractionsinultrathinfenmtbfilmstructure
first_indexed 2023-10-18T21:21:13Z
last_indexed 2023-10-18T21:21:13Z
_version_ 1796152594687590400