Ellipsometric study of ion implanted copper surface and its room temperature oxidation
The room temperature oxidation of ion-implanted copper surface has been studied ex situ and in situ using ellipsometry. The ellipsometric parameters T and Д were measured at light incidence angle 75° for different wavelength values in the range of 280 to 760 nm using averaging both over two azimutha...
Збережено в:
Дата: | 2005 |
---|---|
Автори: | , , , , , , , |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2005
|
Назва видання: | Functional Materials |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/139709 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Ellipsometric study of ion implanted copper surface and its room temperature oxidation / L.V. Poperenko, T. Lohner, V.S. Stashchuk, N.Q. Khanh, M.V. Vinnichenko, I.V. Yurgelevych, Essam Ramadan Shaaban, D.V. Nosach // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 1. — С. 83-86. — Бібліогр.: 4 назв. — англ. |