Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films
Using Kretschmann’s method, important parameters defining the propagation of surface waves (namely, the restored polarization azimuth ψ and phase difference Δ between p- and s-components of the electromagnetic wave) versus the light incidence angle θ for thin Ag and Au films have been investigated....
Збережено в:
| Видавець: | НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
|---|---|
| Дата: | 2005 |
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2005
|
| Назва видання: | Functional Materials |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/139715 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Цитувати: | Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films / V.L. Severynov, I.A. Shaikevich, Y.A. Shybiko // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 1. — С. 131-132. — Бібліогр.: 4 назв. — англ. |
Репозиторії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-139715 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-1397152018-06-22T03:04:04Z Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films Severynov, V.L. Shaikevich, I.A. Shybiko, Y.A. Using Kretschmann’s method, important parameters defining the propagation of surface waves (namely, the restored polarization azimuth ψ and phase difference Δ between p- and s-components of the electromagnetic wave) versus the light incidence angle θ for thin Ag and Au films have been investigated. It has been show that at wavelength λ = 620 nm, the ellipsometric sensor on Au film is more sensitive to molecular pollutions than sensor on Ag film. Используя метод Кречмана, исследованы угловые зависимости поляризационных параметров (азимут ψ восстановленной линейной поляризации и сдвиг фаз Δ между р- и s-компонентами поляризации электромагнитной волны) для тонких пленок Ад и Au. Показано, что на длине волны λ = 620 нм эллипсометрический сенсор, изготовленный на пленке золота, является более чувствительным к молекулярным загрязнениям, чем на пленке серебра. З застосуванням метода Кречмана досліджено кутові залежності поляризаційних параметрів (азимут ψ відновленої лінійної поляризації та зсув Δ фаз між р- та s-компонентами електромагнітної хвилі) для тонких плівок Ад та Au. З цих даних видно, що на довжині хвилі λ = 620 нм еліпсометричний сенсор, виготовлений на плівці золота, має вищу чутливість до молекулярних забруднень, ніж сенсор на плівці срібла. 2005 Article Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films / V.L. Severynov, I.A. Shaikevich, Y.A. Shybiko // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 1. — С. 131-132. — Бібліогр.: 4 назв. — англ. 1027-5495 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/139715 en Functional Materials НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
English |
| description |
Using Kretschmann’s method, important parameters defining the propagation of surface waves (namely, the restored polarization azimuth ψ and phase difference Δ between p- and s-components of the electromagnetic wave) versus the light incidence angle θ for thin Ag and Au films have been investigated. It has been show that at wavelength λ = 620 nm, the ellipsometric sensor on Au film is more sensitive to molecular pollutions than sensor on Ag film. |
| format |
Article |
| author |
Severynov, V.L. Shaikevich, I.A. Shybiko, Y.A. |
| spellingShingle |
Severynov, V.L. Shaikevich, I.A. Shybiko, Y.A. Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films Functional Materials |
| author_facet |
Severynov, V.L. Shaikevich, I.A. Shybiko, Y.A. |
| author_sort |
Severynov, V.L. |
| title |
Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films |
| title_short |
Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films |
| title_full |
Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films |
| title_fullStr |
Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films |
| title_full_unstemmed |
Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films |
| title_sort |
ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin ag and au films |
| publisher |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
| publishDate |
2005 |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/139715 |
| citation_txt |
Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films / V.L. Severynov, I.A. Shaikevich, Y.A. Shybiko // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 1. — С. 131-132. — Бібліогр.: 4 назв. — англ. |
| series |
Functional Materials |
| work_keys_str_mv |
AT severynovvl ellipsometricplasmonsensorforadsorbedlayersonthinagandaufilms AT shaikevichia ellipsometricplasmonsensorforadsorbedlayersonthinagandaufilms AT shybikoya ellipsometricplasmonsensorforadsorbedlayersonthinagandaufilms |
| first_indexed |
2023-10-18T21:21:15Z |
| last_indexed |
2023-10-18T21:21:15Z |
| _version_ |
1796152596493238272 |