Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films
Using Kretschmann’s method, important parameters defining the propagation of surface waves (namely, the restored polarization azimuth ψ and phase difference Δ between p- and s-components of the electromagnetic wave) versus the light incidence angle θ for thin Ag and Au films have been investigated....
Збережено в:
Видавець: | НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
---|---|
Дата: | 2005 |
Автори: | Severynov, V.L., Shaikevich, I.A., Shybiko, Y.A. |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2005
|
Назва видання: | Functional Materials |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/139715 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Цитувати: | Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films / V.L. Severynov, I.A. Shaikevich, Y.A. Shybiko // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 1. — С. 131-132. — Бібліогр.: 4 назв. — англ. |
Репозиторії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
-
Angular dependences of ellipsometric parameters of thin Cr and Ti films under surface polariton excitation
за авторством: Shybiko, Ya.A., та інші
Опубліковано: (2006) -
Ellipsometric Properties of Thin Films of Molybdenum at the Excitation of Surface Polaritons
за авторством: V. V. Lendel, та інші
Опубліковано: (2014) -
Plasmon resonance properties of Au, Cu and Ag multi-layered structures with P(VDF-TrFE)
за авторством: A. L. Yampolskyi, та інші
Опубліковано: (2023) -
Plasmon resonance properties of Au, Cu and Ag multi-layered structures with P(VDF-TrFE)
за авторством: A. L. Yampolskyi, та інші
Опубліковано: (2023) -
Nanostructured Au chips with enhanced sensitivity for sensors based on surface plasmon resonance
за авторством: I. Z. Indutnyi, та інші
Опубліковано: (2017)