Методика оценки влияния структурных неоднородностей электромагнитного экрана на его защитные свойства
Разработана методика аналитического расчета электромагнитного поля, проникающего внутрь корпуса-экрана через его структурные неоднородности. Методика учитывает произвольную форму структурной неоднородности и толщину стенки экрана. Разработана компьютерная программа, реализующая методику для произвол...
Збережено в:
| Видавець: | Інститут технічних проблем магнетизму НАН України |
|---|---|
| Дата: | 2010 |
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут технічних проблем магнетизму НАН України
2010
|
| Назва видання: | Електротехніка і електромеханіка |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/143358 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Цитувати: | Методика оценки влияния структурных неоднородностей электромагнитного экрана на его защитные свойства / А.Ю. Скобликов // Електротехніка і електромеханіка. — 2010. — № 4. — С. 44-48. — Бібліогр.: 6 назв. — рос. |