Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів

Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів

Запропоновано спосіб визначення компонент тензора деформацій з аналізу розподілів інтенсивності зворотно розсіяних електронів на картинах Кікучі. Досліджено деформаційний стан локальних ділянок кристала синтетичного алмазу, отриманого методом температурного градієнта в системі Fe–Al–C нарощуванням н...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2016
Автори: Фодчук, І.М., Борча, М.Д., Хоменко, В.Ю., Баловсяк, С.В., Ткач, В.М., Стаценко, О.О.
Формат: Стаття
Мова:Ukrainian
Опубліковано: Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України 2016
Назва видання:Сверхтвердые материалы
Теми:
Получение, структура, свойства
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/143856
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів / І.М. Фодчук, М.Д. Борча, В.Ю. Хоменко, С.В. Баловсяк, В.М. Ткач, О.О. Стаценко // Сверхтвердые материалы. — 2016. — № 4. — С. 67-73. — Бібліогр.: 13 назв. — укр.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-143856
record_format dspace
spelling irk-123456789-1438562018-11-15T01:24:03Z Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів Фодчук, І.М. Борча, М.Д. Хоменко, В.Ю. Баловсяк, С.В. Ткач, В.М. Стаценко, О.О. Получение, структура, свойства Запропоновано спосіб визначення компонент тензора деформацій з аналізу розподілів інтенсивності зворотно розсіяних електронів на картинах Кікучі. Досліджено деформаційний стан локальних ділянок кристала синтетичного алмазу, отриманого методом температурного градієнта в системі Fe–Al–C нарощуванням на монокристал алмазу, синтезованого у системі Ni–Mn–C. Побудовано характеристичні поверхні тензорів та еліпсоїди деформацій, проаналізовано особливості їх розподілу по кристалу. Діагональні компоненти тензора визначали зі змін розподілів інтенсивності окремих смуг, інші компоненти – зі зміщення осей зон відносно їх положень на еталонній картині Кікучі. Предложен способ определения компонент тензора деформаций по анализу распределений интенсивности обратно рассеянных электронов на картинах Кикучи. Исследовано деформационное состояние локальных участков кристалла искусственного алмаза, полученного методом температурного градиента в системе Fe–Al–C наращиванием на монокристалл алмаза, синтезированного в системе Ni–Mn–C. Построено характеристические поверхности тензоров и эллипсоиды деформаций, проанализированы особенности их распределения по кристаллу. Диагональные компоненты тензора определяли по изменению распределений интенсивности отдельных полос, другие компоненты – по смещению осей зон относительно их положений на эталонной картине Кикучи. The authors put forward a procedure of determination of strain tensor components through the analysis of distribution of intensity of back-scattered electrons in Kikuchi patterns. The strain state has been studied in local areas of a synthetic diamond crystal produced by the temperature gradient method in the Fe–Al–C system through growing onto a diamond single crystal synthesized in the Ni–Mn–C system. Characteristic surfaces of the strain tensors and strain ellipsoids have been plotted; special features of strain distribution in the crystal have been analyzed. Diagonal tensor components have been determined from the changes of distributions of intensity of individual bands, the other components have been found from the displacements of axes of zones relative to their positions in the standard Kikuchi pattern. 2016 Article Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів / І.М. Фодчук, М.Д. Борча, В.Ю. Хоменко, С.В. Баловсяк, В.М. Ткач, О.О. Стаценко // Сверхтвердые материалы. — 2016. — № 4. — С. 67-73. — Бібліогр.: 13 назв. — укр. 0203-3119 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/143856 548.736.15:535.4 uk Сверхтвердые материалы Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Ukrainian
topic Получение, структура, свойства
Получение, структура, свойства
spellingShingle Получение, структура, свойства
Получение, структура, свойства
Фодчук, І.М.
Борча, М.Д.
Хоменко, В.Ю.
Баловсяк, С.В.
Ткач, В.М.
Стаценко, О.О.
Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів
Сверхтвердые материалы
description Запропоновано спосіб визначення компонент тензора деформацій з аналізу розподілів інтенсивності зворотно розсіяних електронів на картинах Кікучі. Досліджено деформаційний стан локальних ділянок кристала синтетичного алмазу, отриманого методом температурного градієнта в системі Fe–Al–C нарощуванням на монокристал алмазу, синтезованого у системі Ni–Mn–C. Побудовано характеристичні поверхні тензорів та еліпсоїди деформацій, проаналізовано особливості їх розподілу по кристалу. Діагональні компоненти тензора визначали зі змін розподілів інтенсивності окремих смуг, інші компоненти – зі зміщення осей зон відносно їх положень на еталонній картині Кікучі.
format Article
author Фодчук, І.М.
Борча, М.Д.
Хоменко, В.Ю.
Баловсяк, С.В.
Ткач, В.М.
Стаценко, О.О.
author_facet Фодчук, І.М.
Борча, М.Д.
Хоменко, В.Ю.
Баловсяк, С.В.
Ткач, В.М.
Стаценко, О.О.
author_sort Фодчук, І.М.
title Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів
title_short Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів
title_full Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів
title_fullStr Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів
title_full_unstemmed Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів
title_sort деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів
publisher Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України
publishDate 2016
topic_facet Получение, структура, свойства
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/143856
citation_txt Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів / І.М. Фодчук, М.Д. Борча, В.Ю. Хоменко, С.В. Баловсяк, В.М. Ткач, О.О. Стаценко // Сверхтвердые материалы. — 2016. — № 4. — С. 67-73. — Бібліогр.: 13 назв. — укр.
series Сверхтвердые материалы
work_keys_str_mv AT fodčukím deformacíjnijstankristalívsintetičnogoalmazuzadanimimetodudifrakcíízvorotnorozsíânihelektronív
AT borčamd deformacíjnijstankristalívsintetičnogoalmazuzadanimimetodudifrakcíízvorotnorozsíânihelektronív
AT homenkovû deformacíjnijstankristalívsintetičnogoalmazuzadanimimetodudifrakcíízvorotnorozsíânihelektronív
AT balovsâksv deformacíjnijstankristalívsintetičnogoalmazuzadanimimetodudifrakcíízvorotnorozsíânihelektronív
AT tkačvm deformacíjnijstankristalívsintetičnogoalmazuzadanimimetodudifrakcíízvorotnorozsíânihelektronív
AT stacenkooo deformacíjnijstankristalívsintetičnogoalmazuzadanimimetodudifrakcíízvorotnorozsíânihelektronív
first_indexed 2023-05-20T17:18:06Z
last_indexed 2023-05-20T17:18:06Z
_version_ 1796152985123815424

Схожі ресурси