Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory
This paper presents single dynamic faults and methods for their detection. Such dynamic faults as dRDF, dDRDF and dIRF are considered in detail. Also, pseudo-ring testing and the principles of single dynamic faults detecting by pseudo-ring tests are considered. The paper presents the resolution dete...
Збережено в:
| Дата: | 2018 |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2018
|
| Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/150282 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory / S.S. Gritcov, G.F. Sorokin, T.V. Shestacova // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2018. — № 5-6. — С. 3-9. — Бібліогр.: 15 назв. — англ. |