Application of carbon as a barrier layer in Sc/Si multilayer X-ray mirrors

X-ray reflectometry in the hard X-ray region (λ = 0.154 nm) was used to investigate the barrier properties of carbon layers 0.2-1.3 nm thick in Sc/Si multilayer X-ray mirrors (MXMs) deposited by DC magnetron sputtering. Precise measurement of the MXM period makes it possible to record volumetric cha...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2018
Автори: Pershyn, Yu.P., Devizenko, I.Yu., Chumak, V.S., Devizenko, A.Yu., Kondratenko, V.V.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2018
Назва видання:Functional Materials
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/157155
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Application of carbon as a barrier layer in Sc/Si multilayer X-ray mirrors / Yu.P. Pershyn, I.Yu. Devizenko, V.S. Chumak, A.Yu. Devizenko, V.V. Kondratenko // Functional Materials. — 2018. — Т. 25, № 3. — С. 505-515. — Бібліогр.: 18 назв. — англ.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine