Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications
The authors investigate deformation-induced changes in the electrophysical parameters of the indium antimonide microcrystals at cryogenic temperatures in strong magnetic fields up to 10 T.
Збережено в:
| Дата: | 2019 |
|---|---|
| Автори: | , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2019
|
| Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/167872 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Deformation-induced effects in indium antimonide microstructures at cryogenic temperatures for sensor applications / A.O. Druzhinin, Yu.M. Khoverko, I.P. Ostrovskii, N.S. Liakh-Kaguy, O.A. Pasynkova // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2019. — № 3-4. — С. 3-9. — Бібліогр.: 31 назв. — англ. |