Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats

Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats

This article describes the developed equipment that allows measuring the photoelectrical parameters of multielement photodetectors, specifically various formats of EMCCD (electron multiplying charge-coupled device) chips. The authors present the measuring techniques and test results on dark currents...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Видавець:Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Дата:2019
Автори: Zabudsky, V., Golenkov, O., Rikhalsky, O., Reva, V., Korinets, S., Dukhnin, S., Mytiai, R.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2019
Назва видання:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Теми:
Электронные средства: исследования, разработки
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/167881
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Цитувати:Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats / V. Zabudsky, O. Golenkov, O. Rikhalsky, V. Reva, S. Korinets, S. Dukhnin, R. Mytiai // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2019. — № 5-6. — С. 3-7. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:This article describes the developed equipment that allows measuring the photoelectrical parameters of multielement photodetectors, specifically various formats of EMCCD (electron multiplying charge-coupled device) chips. The authors present the measuring techniques and test results on dark currents, output amplifier sensitivity, charge transfer efficiency, charge capacity and other parameters. The studies were conducted, both on the wafer and in the body, on samples of the following formats: 576×288, 640×512, 768×576, 1024×1024, and 1280×1024.

Схожі ресурси