Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats
This article describes the developed equipment that allows measuring the photoelectrical parameters of multielement photodetectors, specifically various formats of EMCCD (electron multiplying charge-coupled device) chips. The authors present the measuring techniques and test results on dark currents...
Збережено в:
| Видавець: | Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
|---|---|
| Дата: | 2019 |
| Автори: | , , , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2019
|
| Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/167881 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Цитувати: | Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats / V. Zabudsky, O. Golenkov, O. Rikhalsky, V. Reva, S. Korinets, S. Dukhnin, R. Mytiai // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2019. — № 5-6. — С. 3-7. — Бібліогр.: 8 назв. — англ. |
Репозиторії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-167881 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-1678812020-04-13T01:26:14Z Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats Zabudsky, V. Golenkov, O. Rikhalsky, O. Reva, V. Korinets, S. Dukhnin, S. Mytiai, R. Электронные средства: исследования, разработки This article describes the developed equipment that allows measuring the photoelectrical parameters of multielement photodetectors, specifically various formats of EMCCD (electron multiplying charge-coupled device) chips. The authors present the measuring techniques and test results on dark currents, output amplifier sensitivity, charge transfer efficiency, charge capacity and other parameters. The studies were conducted, both on the wafer and in the body, on samples of the following formats: 576×288, 640×512, 768×576, 1024×1024, and 1280×1024. В данной статье описывается разработанное оборудование, позволяющее измерять фотоэлектрические параметры многоэлементных фотоприемников, в частности, различных форматов микросхем ПЗСЭУ (приборы с зарядовой связью и электронным умножением). Представляны методы измерения и результаты испытаний на темновые токи, чувствительность выходного усилителя, эффективность переноса заряда, зарядную емкость и другие параметры. Исследования проводились на образцах следующих форматов: 576×288, 640×512, 768×576, 1024×1024 и 1280×1024, как на пластине, так и в корпусе. В даній статті описано розроблену вимірювальну систему, що дозволяє досліджувати фотоелектричні параметри багатоелементних фотоприймачів, зокрема ПЗЗЕМ різних форматів. Представлено методики та результати вимірювань темнових струмів, чутливості вихідного підсилювача, ефективності передачі заряду, зарядової ємності та інших параметрів. Дослідження проводилися на зразках формату 576×288, 640×512, 768×576, 1024×1024, 1280×1024 як на пластинах, так і в корпусах. 2019 Article Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats / V. Zabudsky, O. Golenkov, O. Rikhalsky, V. Reva, S. Korinets, S. Dukhnin, R. Mytiai // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2019. — № 5-6. — С. 3-7. — Бібліогр.: 8 назв. — англ. 2225-5818 DOI: 10.15222/TKEA2019.5-6.03 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/167881 621.317.318 en Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
English |
| topic |
Электронные средства: исследования, разработки Электронные средства: исследования, разработки |
| spellingShingle |
Электронные средства: исследования, разработки Электронные средства: исследования, разработки Zabudsky, V. Golenkov, O. Rikhalsky, O. Reva, V. Korinets, S. Dukhnin, S. Mytiai, R. Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| description |
This article describes the developed equipment that allows measuring the photoelectrical parameters of multielement photodetectors, specifically various formats of EMCCD (electron multiplying charge-coupled device) chips. The authors present the measuring techniques and test results on dark currents, output amplifier sensitivity, charge transfer efficiency, charge capacity and other parameters. The studies were conducted, both on the wafer and in the body, on samples of the following formats: 576×288, 640×512, 768×576, 1024×1024, and 1280×1024. |
| format |
Article |
| author |
Zabudsky, V. Golenkov, O. Rikhalsky, O. Reva, V. Korinets, S. Dukhnin, S. Mytiai, R. |
| author_facet |
Zabudsky, V. Golenkov, O. Rikhalsky, O. Reva, V. Korinets, S. Dukhnin, S. Mytiai, R. |
| author_sort |
Zabudsky, V. |
| title |
Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats |
| title_short |
Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats |
| title_full |
Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats |
| title_fullStr |
Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats |
| title_full_unstemmed |
Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats |
| title_sort |
measuring system for testing electrical parameters of emccds of various formats |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| publishDate |
2019 |
| topic_facet |
Электронные средства: исследования, разработки |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/167881 |
| citation_txt |
Measuring system for testing electrical parameters of EMCCDs of various formats / V. Zabudsky, O. Golenkov, O. Rikhalsky, V. Reva, S. Korinets, S. Dukhnin, R. Mytiai // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2019. — № 5-6. — С. 3-7. — Бібліогр.: 8 назв. — англ. |
| series |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| work_keys_str_mv |
AT zabudskyv measuringsystemfortestingelectricalparametersofemccdsofvariousformats AT golenkovo measuringsystemfortestingelectricalparametersofemccdsofvariousformats AT rikhalskyo measuringsystemfortestingelectricalparametersofemccdsofvariousformats AT revav measuringsystemfortestingelectricalparametersofemccdsofvariousformats AT korinetss measuringsystemfortestingelectricalparametersofemccdsofvariousformats AT dukhnins measuringsystemfortestingelectricalparametersofemccdsofvariousformats AT mytiair measuringsystemfortestingelectricalparametersofemccdsofvariousformats |
| first_indexed |
2023-10-18T22:21:45Z |
| last_indexed |
2023-10-18T22:21:45Z |
| _version_ |
1796155316680785920 |