2025-02-23T18:36:22-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-168075%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T18:36:22-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-168075%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T18:36:22-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T18:36:22-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Установка для исследования микропластичности полупроводниковых кристаллов

Установка для исследования микропластичности полупроводниковых кристаллов

Разработана установка, позволяющая исследовать микропластичность алмазоподобных полупроводников. При температуре 300 K это достигается снятием кривых σ−ε или ε−t. В интервале 77–300 K зарождение дислокаций в приповерхностных слоях кристаллов можно регистрировать по изменениям электропроводности, вре...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Надточий, В.А., Нечволод, Н.К., Москаль, Д.С.
Format: Article
Language:Russian
Published: Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України 2004
Series:Физика и техника высоких давлений
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/168075
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

Internet

http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/168075

Similar Items