2025-02-23T21:10:15-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-168075%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T21:10:15-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-168075%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T21:10:15-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T21:10:15-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Установка для исследования микропластичности полупроводниковых кристаллов
Разработана установка, позволяющая исследовать микропластичность алмазоподобных полупроводников. При температуре 300 K это достигается снятием кривых σ−ε или ε−t. В интервале 77–300 K зарождение дислокаций в приповерхностных слоях кристаллов можно регистрировать по изменениям электропроводности, вре...
Saved in:
Main Authors: | Надточий, В.А., Нечволод, Н.К., Москаль, Д.С. |
---|---|
Format: | Article |
Language: | Russian |
Published: |
Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України
2004
|
Series: | Физика и техника высоких давлений |
Online Access: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/168075 |
Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Similar Items
2025-02-23T21:10:15-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&rows=40&rows=5&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-168075%22&qt=morelikethis
2025-02-23T21:10:15-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&rows=40&rows=5&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-168075%22&qt=morelikethis
2025-02-23T21:10:15-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T21:10:15-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Similar Items
-
Распределение дефектов в тонких полупроводниковых пластинах при низкотемпературной деформации
by: Уколов, А.И., et al.
Published: (2013) -
Ионизационный отжиг полупроводниковых кристаллов. Часть вторая: эксперимент
by: Гаркавенко, А.С., et al.
Published: (2014) -
Ионизационный отжиг полупроводниковых кристаллов. Часть первая: Теоретические предпосылки
by: Гаркавенко, А.С., et al.
Published: (2014) -
Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
by: Павлюк, С.П., et al.
Published: (2004) -
Установка для исследования свойств нераспыляемого геттера
by: Гревцев, В.Г., et al.
Published: (2003)