2025-02-22T16:43:04-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-168082%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-22T16:43:04-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-168082%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-22T16:43:04-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-22T16:43:04-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Changes in lifetime of charge carriers and in Ge defective subsurface layer conductivity at thermal treatment

Changes in lifetime of charge carriers and in Ge defective subsurface layer conductivity at thermal treatment

Изучено влияние низкотемпературной деформации с одновременным ультразвуковым (УЗ) облучением на рекомбинационные свойства и проводимость приповерхностных слоев Ge. Деформация при 300 K вызывает зарождение дислокаций и точечных дефектов (ТД) в приповерхностном слое, где проявляется донорное действие...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Надточий, В.А., Нечволод, Н.К., Голоденко, Н.Н.
Format: Article
Language:Russian
Published: Донецький фізико-технічний інститут ім. О.О. Галкіна НАН України 2004
Series:Физика и техника высоких давлений
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/168082
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

Internet

http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/168082

Similar Items