Спектроскопия глубоких уровней радиационных дефектов в полупроводниках A⁴B⁶ с помощью давления

Представлены результаты экспериментального исследования энергетического спектра радиационных дефектов в облученных электронами сплавах на основе полупроводников A⁴B⁶ (Pb₁₋xSnxSe, Pb₁₋xSnxTe), полученные методом спектроскопии локализованных состояний с помощью давления. Основное внимание уделено эксп...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:1996
Автори: Брандт, Н.Б., Скипетров, Е.П.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України 1996
Назва видання:Физика низких температур
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/179874
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Спектроскопия глубоких уровней радиационных дефектов в полупроводниках A⁴B⁶ с помощью давления / Н.Б. Брандт, Е.П. Скипетров // Физика низких температур. — 1996. — Т. 22, № 8. — С. 870-891. — Бібліогр.: 61 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-179874
record_format dspace
spelling irk-123456789-1798742021-06-30T01:26:12Z Спектроскопия глубоких уровней радиационных дефектов в полупроводниках A⁴B⁶ с помощью давления Брандт, Н.Б. Скипетров, Е.П. Библиография Представлены результаты экспериментального исследования энергетического спектра радиационных дефектов в облученных электронами сплавах на основе полупроводников A⁴B⁶ (Pb₁₋xSnxSe, Pb₁₋xSnxTe), полученные методом спектроскопии локализованных состояний с помощью давления. Основное внимание уделено экспериментальному обнаружению уровней радиационных дефектов, интерпретации качественных эффектов, связанных с перераспределением электронов в облученных кристаллах между разрешенными зонами и зонами радиационных дефектов при сжатии образцов, построению и обоснованию моделей перестройки энергетического спектра облученных сплавов при изменении состава сплава и под давлением. Обсуждены проблемы восстановления функции плотности состояний в резонансных зонах радиационных дефектов и определения основных параметров моделей энергетического спектра облученных электронами сплавов Pb₁₋xSnxSe, Pb₁₋xSnxTe. Наведено результати експериментальних досліджень енергетичного спектра радіаційних дефектів в опромінених електронами сполуках на основі напівпровідників A⁴B⁶ (Pb₁₋xSnxSe, Pb₁₋xSnxTe), які одержано методом спектроскопії локалізованих станів за допомогою тиску. Основну увагу приділено експериментальному виявленню рівней радіаційних дефектів, інтерпретації якісних ефектів, пов’язаних з перерозподілом електронів в опромінених кристалах між розділеними зонами і зонами радіаційних дефектів при стискуванні зразків, побудові і обгрунтуванню моделей перебудови енергетичного спектра опромінених сплавів при зміні складу сплаву і під тиском. Обмірковано проблеми відновлення функції густини станів в резонансних зонах радіаційних дефектів і визначення основних параметрів моделей енергетичного спектра опромінених електронами сплавів Pb₁₋xSnxSe, Pb₁₋xSnxTe. The results are given of the experimental investigation into the energy spectra of irradiation-induced defects in the electron-irradiated semiconductors based on IV-VI semiconductors (Pb₁₋xSnxSe, Pb₁₋xSnxTe), obtained by a high pressure spectroscopy of localized states. Main attention is paid experimental revealing of the irradiation-induced states, interpretation of effects connected with a redistribution of electrons in irradiated crystals between allowed bands and irradiation-induced states under pressure, construction of the models of reconstruction of the energy spectra of irradiated alloys when changing the tin content and under pressure. Reconstruction of the function of the density of states in the resonant irradiation-induced bands and determination of the main parameters of the energy spectra of irradiated Pb₁₋xSnxSe, Pb₁₋xSnxTe alloys are discussed. 1996 Article Спектроскопия глубоких уровней радиационных дефектов в полупроводниках A⁴B⁶ с помощью давления / Н.Б. Брандт, Е.П. Скипетров // Физика низких температур. — 1996. — Т. 22, № 8. — С. 870-891. — Бібліогр.: 61 назв. — рос. 0132-6414 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/179874 ru Физика низких температур Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Библиография
Библиография
spellingShingle Библиография
Библиография
Брандт, Н.Б.
Скипетров, Е.П.
Спектроскопия глубоких уровней радиационных дефектов в полупроводниках A⁴B⁶ с помощью давления
Физика низких температур
description Представлены результаты экспериментального исследования энергетического спектра радиационных дефектов в облученных электронами сплавах на основе полупроводников A⁴B⁶ (Pb₁₋xSnxSe, Pb₁₋xSnxTe), полученные методом спектроскопии локализованных состояний с помощью давления. Основное внимание уделено экспериментальному обнаружению уровней радиационных дефектов, интерпретации качественных эффектов, связанных с перераспределением электронов в облученных кристаллах между разрешенными зонами и зонами радиационных дефектов при сжатии образцов, построению и обоснованию моделей перестройки энергетического спектра облученных сплавов при изменении состава сплава и под давлением. Обсуждены проблемы восстановления функции плотности состояний в резонансных зонах радиационных дефектов и определения основных параметров моделей энергетического спектра облученных электронами сплавов Pb₁₋xSnxSe, Pb₁₋xSnxTe.
format Article
author Брандт, Н.Б.
Скипетров, Е.П.
author_facet Брандт, Н.Б.
Скипетров, Е.П.
author_sort Брандт, Н.Б.
title Спектроскопия глубоких уровней радиационных дефектов в полупроводниках A⁴B⁶ с помощью давления
title_short Спектроскопия глубоких уровней радиационных дефектов в полупроводниках A⁴B⁶ с помощью давления
title_full Спектроскопия глубоких уровней радиационных дефектов в полупроводниках A⁴B⁶ с помощью давления
title_fullStr Спектроскопия глубоких уровней радиационных дефектов в полупроводниках A⁴B⁶ с помощью давления
title_full_unstemmed Спектроскопия глубоких уровней радиационных дефектов в полупроводниках A⁴B⁶ с помощью давления
title_sort спектроскопия глубоких уровней радиационных дефектов в полупроводниках a⁴b⁶ с помощью давления
publisher Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
publishDate 1996
topic_facet Библиография
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/179874
citation_txt Спектроскопия глубоких уровней радиационных дефектов в полупроводниках A⁴B⁶ с помощью давления / Н.Б. Брандт, Е.П. Скипетров // Физика низких температур. — 1996. — Т. 22, № 8. — С. 870-891. — Бібліогр.: 61 назв. — рос.
series Физика низких температур
work_keys_str_mv AT brandtnb spektroskopiâglubokihurovnejradiacionnyhdefektovvpoluprovodnikaha4b6spomoŝʹûdavleniâ
AT skipetrovep spektroskopiâglubokihurovnejradiacionnyhdefektovvpoluprovodnikaha4b6spomoŝʹûdavleniâ
first_indexed 2023-10-18T22:48:45Z
last_indexed 2023-10-18T22:48:45Z
_version_ 1796156500020822016