2025-02-22T16:41:24-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-18685%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-22T16:41:24-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-18685%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-22T16:41:24-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-22T16:41:24-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик
Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який ґрунтується на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом перевірки певним чином сформованих гіпотез відносно стану складових частин електронних пристроїв (суть аналізу їх характеристик), можна виділити несправну підсхему...
Saved in:
| Main Authors: | , , |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
2008
|
| Series: | Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Фізико-математичні науки |
| Online Access: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/18685 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|