Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик
Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який ґрунтується на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом перевірки певним чином сформованих гіпотез відносно стану складових частин електронних пристроїв (суть аналізу їх характеристик), можна виділити несправну підсхему...
Збережено в:
| Дата: | 2008 |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
2008
|
| Назва видання: | Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Фізико-математичні науки |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/18685 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик / С.А. Положаенко, А.А. Верлань, И.Х. Осман // Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки: зб. наук. пр. — Кам’янець-Подільський: Кам'янець-Подільськ. нац. ун-т, 2008. — Вип. 1. — С. 140-144. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
irk-123456789-18685 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
irk-123456789-186852011-04-08T12:03:55Z Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик Положаенко, С.А. Верлань, А.А. Осман, И.Х. Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який ґрунтується на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом перевірки певним чином сформованих гіпотез відносно стану складових частин електронних пристроїв (суть аналізу їх характеристик), можна виділити несправну підсхему. Доведено ефективність методів локалізації при діагностиці електронних пристроїв. The method of localization of defective subsystems of electronic devices, which, is offered it is founded on principle of decomposition. It is shown, that by verification definitely of the formed hypotheses in relation to being of component parts of electronic devices (essence of analysis of their descriptions), and it is possible to select defective of subsystem. Efficiency of methods of localization is led to at diagnostics of electronic devices. 2008 Article Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик / С.А. Положаенко, А.А. Верлань, И.Х. Осман // Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки: зб. наук. пр. — Кам’янець-Подільський: Кам'янець-Подільськ. нац. ун-т, 2008. — Вип. 1. — С. 140-144. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. XXXX-0060 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/18685 621.36.2 ru Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Фізико-математичні науки Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| language |
Russian |
| description |
Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який ґрунтується на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом перевірки певним чином сформованих гіпотез відносно стану складових частин електронних пристроїв (суть аналізу їх характеристик), можна виділити несправну підсхему. Доведено ефективність методів локалізації при діагностиці електронних пристроїв. |
| format |
Article |
| author |
Положаенко, С.А. Верлань, А.А. Осман, И.Х. |
| spellingShingle |
Положаенко, С.А. Верлань, А.А. Осман, И.Х. Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Фізико-математичні науки |
| author_facet |
Положаенко, С.А. Верлань, А.А. Осман, И.Х. |
| author_sort |
Положаенко, С.А. |
| title |
Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик |
| title_short |
Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик |
| title_full |
Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик |
| title_fullStr |
Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик |
| title_full_unstemmed |
Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик |
| title_sort |
локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик |
| publisher |
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України |
| publishDate |
2008 |
| url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/18685 |
| citation_txt |
Локализация неисправных электронных подсхем методом обучающих и проверочных характеристик / С.А. Положаенко, А.А. Верлань, И.Х. Осман // Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки: зб. наук. пр. — Кам’янець-Подільський: Кам'янець-Подільськ. нац. ун-т, 2008. — Вип. 1. — С. 140-144. — Бібліогр.: 3 назв. — рос. |
| series |
Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Фізико-математичні науки |
| work_keys_str_mv |
AT položaenkosa lokalizaciâneispravnyhélektronnyhpodshemmetodomobučaûŝihiproveročnyhharakteristik AT verlanʹaa lokalizaciâneispravnyhélektronnyhpodshemmetodomobučaûŝihiproveročnyhharakteristik AT osmanih lokalizaciâneispravnyhélektronnyhpodshemmetodomobučaûŝihiproveročnyhharakteristik |
| first_indexed |
2023-10-18T17:02:51Z |
| last_indexed |
2023-10-18T17:02:51Z |
| _version_ |
1796140542176788480 |