Атомно-силова мікроскопія поверхні кристалів і плівок вісмуту
Розвиток методів скануючої зондової мікроскопії суттєво розширив можливості дослідження структури поверхні кристалів, плівок, мезоструктур і наноструктур, модифікації структури поверхонь. В роботі використаний скануючий зондовий мікроскоп Solver Російської фірми НТ-МДТ для дослідження структури пове...
Збережено в:
| Видавець: | Інститут термоелектрики НАН України та МОН України |
|---|---|
| Дата: | 2009 |
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Ukrainian |
| Опубліковано: |
Інститут термоелектрики НАН України та МОН України
2009
|
| Назва видання: | Термоелектрика |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/27911 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Цитувати: | Атомно-силова мікроскопія поверхні кристалів і плівок вісмуту / В.М. Грабов., Е.В. Демидов, В.А. Комаров // Термоелектрика. — 2009. — № 1. — С. 41-47. — Бібліогр.: 10 назв. — укр. |