Масс-спектрометрия наноструктурированных систем
Рассмотрены специфические технические и научные проблемы масс-спектрометрии, возникающие и решаемые при исследовании наноструктурированных систем. Под этим углом зрения проведен краткий анализ тенденций развития метода и приложений масс-спектрометрии в мире и в Украине. Обозначены наиболее впечатляю...
Збережено в:
| Видавець: | Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України |
|---|---|
| Дата: | 2010 |
| Автор: | |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України
2010
|
| Назва видання: | Поверхность |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/39323 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Цитувати: | Масс-спектрометрия наноструктурированных систем / В.А. Покровский // Поверхность. — 2010. — Вип. 2(17). — С. 63-93. — Бібліогр.: 56 назв. — рос. |