Вплив високоенергетичного опромінення на формування дефектів в індивідуальних та змішаних оксидах SiO2–TiO2–ZrO2

Методом ЕПР досліджено дефектну структуру змішаних оксидів TiO2/ZrO2, TiO2/SiO2, SiO2 / ZrO2 та TiO2 / ZrO2 / SiO2. Встановлено характер дефектів, що формуються під час зольгель синтезу і в процесі подальшої термообробки, та вивчено вплив високоенергетичного опромінення на дефектну структуру отриман...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2010
Автори: Вітюк, Н.В., Єременко, Г.М., Смірнова, Н.П., Биков, І.П.
Формат: Стаття
Мова:Ukrainian
Опубліковано: Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України 2010
Назва видання:Поверхность
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/39331
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Вплив високоенергетичного опромінення на формування дефектів в індивідуальних та змішаних оксидах SiO2–TiO2–ZrO2 / Н.В. Вітюк, Г.М. Єременко, Н.П. Смірнова, І.П. Биков // Поверхность. — 2010. — Вип. 2(17). — С. 161-171. — Бібліогр.: 35 назв. — укр.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine