Вплив високоенергетичного опромінення на формування дефектів в індивідуальних та змішаних оксидах SiO2–TiO2–ZrO2
Методом ЕПР досліджено дефектну структуру змішаних оксидів TiO2/ZrO2, TiO2/SiO2, SiO2 / ZrO2 та TiO2 / ZrO2 / SiO2. Встановлено характер дефектів, що формуються під час зольгель синтезу і в процесі подальшої термообробки, та вивчено вплив високоенергетичного опромінення на дефектну структуру отриман...
Збережено в:
| Дата: | 2010 |
|---|---|
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Ukrainian |
| Опубліковано: |
Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України
2010
|
| Назва видання: | Поверхность |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/39331 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Вплив високоенергетичного опромінення на формування дефектів в індивідуальних та змішаних оксидах SiO2–TiO2–ZrO2 / Н.В. Вітюк, Г.М. Єременко, Н.П. Смірнова, І.П. Биков // Поверхность. — 2010. — Вип. 2(17). — С. 161-171. — Бібліогр.: 35 назв. — укр. |