Физическое обоснование возможности использования монокристальных сенсоров для анализа деформационной поврежденности элементов конструкций
Показано, что с помощью качественного и количественного (фрактального) анализа панорам деформационного рельефа монокристального сенсора определенной кристаллографической ориентации, жестко скрепленного с механически нагружаемым объектом, можно обнаружить локализацию повреждения как в макроскоп...
Збережено в:
| Видавець: | Інститут проблем міцності ім. Г.С. Писаренко НАН України |
|---|---|
| Дата: | 2006 |
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут проблем міцності ім. Г.С. Писаренко НАН України
2006
|
| Назва видання: | Проблемы прочности |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/47840 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Цитувати: | Физическое обоснование возможности использования монокристальных сенсоров для анализа деформационной поврежденности элементов конструкций / Е.Э. Засимчук, Ю.Г. Гордиенко, Р.Г. Гонтарева // Проблемы прочности. — 2006. — № 2. — С. 93-104. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |