Поляриметрия подложек компакт-дисков

Приведены результаты экспериментальных исследований анизотропии подложек оптических дисковых накопителей информации методом полной Мюллер-поляриметрии. Показано, что значения двулучепреломления в подложках компакт-дисков, изготовленных из поликарбоната, сильно зависят от условий изготовления. Провед...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Видавець:Інститут проблем реєстрації інформації НАН України
Дата:2005
Автори: Савенков, С.Н., Крючин, А.А., Оберемок, Е.А., Якубчак, В.В.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут проблем реєстрації інформації НАН України 2005
Назва видання:Реєстрація, зберігання і обробка даних
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/50783
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Цитувати:Поляриметрия подложек компакт-дисков / С.Н. Савенков, A.A. Крючин, E.A. Оберемок, В.В. Якубчак // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2005. — Т. 7, № 4. — С. 3-13. — Бібліогр.: 8 назв. — pос.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Приведены результаты экспериментальных исследований анизотропии подложек оптических дисковых накопителей информации методом полной Мюллер-поляриметрии. Показано, что значения двулучепреломления в подложках компакт-дисков, изготовленных из поликарбоната, сильно зависят от условий изготовления. Проведенные исследования показали, что анизотропия в подложках, выполненных из монокристаллического сапфира существенно меньше.