Поляриметрия подложек компакт-дисков

Поляриметрия подложек компакт-дисков

Приведены результаты экспериментальных исследований анизотропии подложек оптических дисковых накопителей информации методом полной Мюллер-поляриметрии. Показано, что значения двулучепреломления в подложках компакт-дисков, изготовленных из поликарбоната, сильно зависят от условий изготовления. Провед...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2005
Hauptverfasser: Савенков, С.Н., Крючин, А.А., Оберемок, Е.А., Якубчак, В.В.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Інститут проблем реєстрації інформації НАН України 2005
Schriftenreihe:Реєстрація, зберігання і обробка даних
Schlagworte:
Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних
Online Zugang:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/50783
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Поляриметрия подложек компакт-дисков / С.Н. Савенков, A.A. Крючин, E.A. Оберемок, В.В. Якубчак // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2005. — Т. 7, № 4. — С. 3-13. — Бібліогр.: 8 назв. — pос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-50783
record_format dspace
fulltext
spelling irk-123456789-507832013-11-06T19:21:16Z Поляриметрия подложек компакт-дисков Савенков, С.Н. Крючин, А.А. Оберемок, Е.А. Якубчак, В.В. Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних Приведены результаты экспериментальных исследований анизотропии подложек оптических дисковых накопителей информации методом полной Мюллер-поляриметрии. Показано, что значения двулучепреломления в подложках компакт-дисков, изготовленных из поликарбоната, сильно зависят от условий изготовления. Проведенные исследования показали, что анизотропия в подложках, выполненных из монокристаллического сапфира существенно меньше. The results of experimental investigations for anisotropy of optical disk information storage substrates by total Muller polarimetry method are given. It is shown that values of birefringence in CD substrates manufactured from polycarbonate depend strongly on manufacturing conditions. The conducted investigations have shown that anisotropy in substrates made from monocrystal sapphire is substantially lower. 2005 Article Поляриметрия подложек компакт-дисков / С.Н. Савенков, A.A. Крючин, E.A. Оберемок, В.В. Якубчак // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2005. — Т. 7, № 4. — С. 3-13. — Бібліогр.: 8 назв. — pос. 1560-9189 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/50783 004.085 ru Реєстрація, зберігання і обробка даних Інститут проблем реєстрації інформації НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних
Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних
spellingShingle Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних
Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних
Савенков, С.Н.
Крючин, А.А.
Оберемок, Е.А.
Якубчак, В.В.
Поляриметрия подложек компакт-дисков
Реєстрація, зберігання і обробка даних
description Приведены результаты экспериментальных исследований анизотропии подложек оптических дисковых накопителей информации методом полной Мюллер-поляриметрии. Показано, что значения двулучепреломления в подложках компакт-дисков, изготовленных из поликарбоната, сильно зависят от условий изготовления. Проведенные исследования показали, что анизотропия в подложках, выполненных из монокристаллического сапфира существенно меньше.
format Article
author Савенков, С.Н.
Крючин, А.А.
Оберемок, Е.А.
Якубчак, В.В.
author_facet Савенков, С.Н.
Крючин, А.А.
Оберемок, Е.А.
Якубчак, В.В.
author_sort Савенков, С.Н.
title Поляриметрия подложек компакт-дисков
title_short Поляриметрия подложек компакт-дисков
title_full Поляриметрия подложек компакт-дисков
title_fullStr Поляриметрия подложек компакт-дисков
title_full_unstemmed Поляриметрия подложек компакт-дисков
title_sort поляриметрия подложек компакт-дисков
publisher Інститут проблем реєстрації інформації НАН України
publishDate 2005
topic_facet Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/50783
citation_txt Поляриметрия подложек компакт-дисков / С.Н. Савенков, A.A. Крючин, E.A. Оберемок, В.В. Якубчак // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2005. — Т. 7, № 4. — С. 3-13. — Бібліогр.: 8 назв. — pос.
series Реєстрація, зберігання і обробка даних
work_keys_str_mv AT savenkovsn polârimetriâpodložekkompaktdiskov
AT krûčinaa polârimetriâpodložekkompaktdiskov
AT oberemokea polârimetriâpodložekkompaktdiskov
AT âkubčakvv polârimetriâpodložekkompaktdiskov
first_indexed 2025-07-04T12:36:25Z
last_indexed 2025-07-04T12:36:25Z
_version_ 1836719890859294720

Ähnliche Einträge