2025-02-23T06:44:08-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-50872%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T06:44:08-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-50872%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-23T06:44:08-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-23T06:44:08-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1

Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1

Рассмотрены аналитические методы, используемые для решения задач оптического тонкопленочного и наноструктурного материаловедения. Рассмотрены примеры применения наиболее распространенных и информативных методов анализа. Для наиболее часто используемых методов приведены основные артефакты анализа и м...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Косско, И.А., Курочкин, В.Д., Кравец, В.Г., Крючин, А.А.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут проблем реєстрації інформації НАН України 2007
Series:Реєстрація, зберігання і обробка даних
Subjects:
Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/50872
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Description
Summary:Рассмотрены аналитические методы, используемые для решения задач оптического тонкопленочного и наноструктурного материаловедения. Рассмотрены примеры применения наиболее распространенных и информативных методов анализа. Для наиболее часто используемых методов приведены основные артефакты анализа и методы их устранения или учета при анализе результатов.

Similar Items