Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1

Рассмотрены аналитические методы, используемые для решения задач оптического тонкопленочного и наноструктурного материаловедения. Рассмотрены примеры применения наиболее распространенных и информативных методов анализа. Для наиболее часто используемых методов приведены основные артефакты анализа и м...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2007
Автори:	Косско, И.А., Курочкин, В.Д., Кравец, В.Г., Крючин, А.А.
Формат:	Стаття
Мова:	Russian
Опубліковано:	Інститут проблем реєстрації інформації НАН України 2007
Назва видання:	Реєстрація, зберігання і обробка даних
Теми:	Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних
Онлайн доступ:	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/50872
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 / И.А. Косско, В.Д. Курочкин, В.Г. Кравец, А.А. Крючин // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2007. — Т. 9, № 1. — С. 3-26. — Бібліогр.: 27 назв. — pос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

id	irk-123456789-50872
record_format	dspace
spelling	irk-123456789-508722013-11-06T01:21:45Z Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 Косско, И.А. Курочкин, В.Д. Кравец, В.Г. Крючин, А.А. Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних Рассмотрены аналитические методы, используемые для решения задач оптического тонкопленочного и наноструктурного материаловедения. Рассмотрены примеры применения наиболее распространенных и информативных методов анализа. Для наиболее часто используемых методов приведены основные артефакты анализа и методы их устранения или учета при анализе результатов. Розглянуто аналітичні методи, що використовуються для вирішення задач оптичного тонкоплівкового та наноструктурного матеріалознавства. Розглянуто приклади застосування найбільш розповсюджених й інформативних методів аналізу. Для методів, що найбільш часто використовуються, наведено основні артефакти аналізу та методи їхнього усунення або врахування при аналізі результатів. The analytical methods used for solving tasks of optical thin-film and nanostructure materials science are considered. Examples of application of the most widespread and informative methods of the analysis are given. For the most frequently used methods the basic artifacts of the analysis and methods of their elimination or the account at the analysis of results are presented. 2007 Article Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 / И.А. Косско, В.Д. Курочкин, В.Г. Кравец, А.А. Крючин // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2007. — Т. 9, № 1. — С. 3-26. — Бібліогр.: 27 назв. — pос. 1560-9189 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/50872 004.85 ru Реєстрація, зберігання і обробка даних Інститут проблем реєстрації інформації НАН України
institution	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection	DSpace DC
language	Russian
topic	Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних
spellingShingle	Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних Косско, И.А. Курочкин, В.Д. Кравец, В.Г. Крючин, А.А. Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 Реєстрація, зберігання і обробка даних
description	Рассмотрены аналитические методы, используемые для решения задач оптического тонкопленочного и наноструктурного материаловедения. Рассмотрены примеры применения наиболее распространенных и информативных методов анализа. Для наиболее часто используемых методов приведены основные артефакты анализа и методы их устранения или учета при анализе результатов.
format	Article
author	Косско, И.А. Курочкин, В.Д. Кравец, В.Г. Крючин, А.А.
author_facet	Косско, И.А. Курочкин, В.Д. Кравец, В.Г. Крючин, А.А.
author_sort	Косско, И.А.
title	Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1
title_short	Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1
title_full	Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1
title_fullStr	Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1
title_full_unstemmed	Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1
title_sort	аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. часть 1
publisher	Інститут проблем реєстрації інформації НАН України
publishDate	2007
topic_facet	Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних
url	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/50872
citation_txt	Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 / И.А. Косско, В.Д. Курочкин, В.Г. Кравец, А.А. Крючин // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2007. — Т. 9, № 1. — С. 3-26. — Бібліогр.: 27 назв. — pос.
series	Реєстрація, зберігання і обробка даних
work_keys_str_mv	AT kosskoia analitičeskiemetodyissledovanijtonkoplenočnyhinanostrukturnyhmaterialovispolʹzuemyhdlâoptičeskojzapisičastʹ1 AT kuročkinvd analitičeskiemetodyissledovanijtonkoplenočnyhinanostrukturnyhmaterialovispolʹzuemyhdlâoptičeskojzapisičastʹ1 AT kravecvg analitičeskiemetodyissledovanijtonkoplenočnyhinanostrukturnyhmaterialovispolʹzuemyhdlâoptičeskojzapisičastʹ1 AT krûčinaa analitičeskiemetodyissledovanijtonkoplenočnyhinanostrukturnyhmaterialovispolʹzuemyhdlâoptičeskojzapisičastʹ1
first_indexed	2023-10-18T18:15:19Z
last_indexed	2023-10-18T18:15:19Z
_version_	1796143720048885760

Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1

Репозитарії

Схожі ресурси