Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1

• Дата: 2007
• Автори: Косско, И.А., Курочкин, В.Д., Кравец, В.Г., Крючин, А.А.
• Формат: Стаття
• Мова: Russian
• Опубліковано: Інститут проблем реєстрації інформації НАН України 2007
• Назва видання: Реєстрація, зберігання і обробка даних
• Теми: Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних
• Онлайн доступ: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/50872
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Аналитические методы исследований тонкопленочных и наноструктурных материалов, используемых для оптической записи. Часть 1 / И.А. Косско, В.Д. Курочкин, В.Г. Кравец, А.А. Крючин // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2007. — Т. 9, № 1. — С. 3-26. — Бібліогр.: 27 назв. — pос.

Рассмотрены аналитические методы, используемые для решения задач оптического тонкопленочного и наноструктурного материаловедения. Рассмотрены примеры применения наиболее распространенных и информативных методов анализа. Для наиболее часто используемых методов приведены основные артефакты анализа и м...