Характеристики фотодиодов со структурой «собственный оксид – InSe», облученных высокоэнергетическими электронами
Исследовано влияние электронов с эффективной энергией 12 МэВ в диапазоне доз 0,33-33 Мрад на электрические и фотоэлектрические свойства фотодиодов со структурой "собственный оксид - p-InSe". Установлено, что минимальная доза облучения улучшает их основные параметры, а максимальная незначит...
Збережено в:
| Дата: | 2012 |
|---|---|
| Автори: | , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2012
|
| Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/51722 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Характеристики фотодиодов со структурой «собственный оксид – InSe», облученных высокоэнергетическими электронами / О.Н. Сидор, О.А. Сидор, З.Д. Ковалюк, В.И. Дубинко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2012. — № 6. — С. 29-33. — Бібліогр.: 13 назв. — рос. |