Електронна структура вуглецевих нанокомпозитів, отриманих карбонізацією толуїлендіізоціанату в матрицях із високодисперсних оксидів Al₂O₃ та SiO₂
Із застосуванням методів ентгенівської емісійної (ЕС) та фотоелектонної (ФС) спектоскопії досліджено електонну стуктуу вуглецевих композитів подуктів кабонізації толуїлендіізоціанату (ТДІ) в матицях високодиспесних оксидів SiO₂ й Al₂O₃....
Збережено в:
| Дата: | 2009 |
|---|---|
| Автори: | , , , , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Ukrainian |
| Опубліковано: |
Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича НАН України
2009
|
| Назва видання: | Наноструктурное материаловедение |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/62617 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Електронна структура вуглецевих нанокомпозитів, отриманих карбонізацією толуїлендіізоціанату в матрицях із високодисперсних оксидів Al₂O₃ та SiO₂ / В.О. Димарчук, В.М. Огенко, О.В. Набока, Л.В. Дубровіна, М.В. Карпець, Я.В. Зауличний, О.Ю. Хижун, С.В. Волков // Наноструктурное материаловедение. — 2009. — № 1. — С. 10-18. — Бібліогр.: 21 назв. — укр. |