2025-02-22T17:21:54-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-70609%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-22T17:21:54-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-70609%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-22T17:21:54-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-22T17:21:54-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response

Оценка технологического процесса изготовления СБИС по стабильности элементов ее структуры

Применяемый в производстве СБИС метод тестовых схем предлагается дополнить методикой определения нестабильных во времени элементов физической структуры изделия с использованием модели деградационных процессов. Показана возможность проведения ускоренных испытаний на элементах структуры. Приведены экс...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Вантеев, А.М., Коробов, А.И.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2003
Series:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Subjects:
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70609
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!