Особенности получения тонких пленок SiO₂ методом быстрой термической обработки

Рассмотрены физические процессы, протекающие в системе О₂–SiO₂–Si под действием некогерентного излучения в период окисления кремния методом быстрой термической обработки....

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2001
Автори: Светличный, А.М., Агеев, О.А., Шляховой, Д.А.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2001
Назва видання:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70875
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Особенности получения тонких пленок SiO₂ методом быстрой термической обработки / А.М. Светличный, О.А. Агеев, Д.А. Шляховой // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 4-5. — С. 38-43. — Бібліогр.: 29 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-70875
record_format dspace
spelling irk-123456789-708752014-11-16T03:01:54Z Особенности получения тонких пленок SiO₂ методом быстрой термической обработки Светличный, А.М. Агеев, О.А. Шляховой, Д.А. Технология производства Рассмотрены физические процессы, протекающие в системе О₂–SiO₂–Si под действием некогерентного излучения в период окисления кремния методом быстрой термической обработки. 2001 Article Особенности получения тонких пленок SiO₂ методом быстрой термической обработки / А.М. Светличный, О.А. Агеев, Д.А. Шляховой // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 4-5. — С. 38-43. — Бібліогр.: 29 назв. — рос. 2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70875 539.216.2.002—546.28 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Технология производства
Технология производства
spellingShingle Технология производства
Технология производства
Светличный, А.М.
Агеев, О.А.
Шляховой, Д.А.
Особенности получения тонких пленок SiO₂ методом быстрой термической обработки
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description Рассмотрены физические процессы, протекающие в системе О₂–SiO₂–Si под действием некогерентного излучения в период окисления кремния методом быстрой термической обработки.
format Article
author Светличный, А.М.
Агеев, О.А.
Шляховой, Д.А.
author_facet Светличный, А.М.
Агеев, О.А.
Шляховой, Д.А.
author_sort Светличный, А.М.
title Особенности получения тонких пленок SiO₂ методом быстрой термической обработки
title_short Особенности получения тонких пленок SiO₂ методом быстрой термической обработки
title_full Особенности получения тонких пленок SiO₂ методом быстрой термической обработки
title_fullStr Особенности получения тонких пленок SiO₂ методом быстрой термической обработки
title_full_unstemmed Особенности получения тонких пленок SiO₂ методом быстрой термической обработки
title_sort особенности получения тонких пленок sio₂ методом быстрой термической обработки
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
publishDate 2001
topic_facet Технология производства
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70875
citation_txt Особенности получения тонких пленок SiO₂ методом быстрой термической обработки / А.М. Светличный, О.А. Агеев, Д.А. Шляховой // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 4-5. — С. 38-43. — Бібліогр.: 29 назв. — рос.
series Технология и конструирование в электронной аппаратуре
work_keys_str_mv AT svetličnyjam osobennostipolučeniâtonkihplenoksio2metodombystrojtermičeskojobrabotki
AT ageevoa osobennostipolučeniâtonkihplenoksio2metodombystrojtermičeskojobrabotki
AT šlâhovojda osobennostipolučeniâtonkihplenoksio2metodombystrojtermičeskojobrabotki
first_indexed 2023-10-18T18:59:29Z
last_indexed 2023-10-18T18:59:29Z
_version_ 1796145709408321536