Деградация керамических терморезисторов в режиме импульсных токовых нагрузок
Рассмотрены керамические терморезисторы (ТР) с отрицательным ТКС, применяемые в качестве ограничителей пусковых токов в источниках вторичного электропитания. Показано, что процесс деградации ТР под воздействием экстремальных токовых нагрузок в значительной степени определяется общим количеством импу...
Збережено в:
Дата: | 2000 |
---|---|
Автори: | , , , , |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2000
|
Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70926 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Деградация керамических терморезисторов в режиме импульсных токовых нагрузок / Н.М. Вакив, Ю. Мацяк, О.Я. Мруз, Ю. Погожельска, О.И. Шпотюк // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2000. — № 2-3. — С. 39-41. — Бібліогр.: 7 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraineid |
irk-123456789-70926 |
---|---|
record_format |
dspace |
spelling |
irk-123456789-709262014-11-17T03:01:47Z Деградация керамических терморезисторов в режиме импульсных токовых нагрузок Вакив, Н.М. Мацяк, Ю. Мруз, О.Я. Погожельска, Ю. Шпотюк, О.И. Качество и надежность аппаратуры Рассмотрены керамические терморезисторы (ТР) с отрицательным ТКС, применяемые в качестве ограничителей пусковых токов в источниках вторичного электропитания. Показано, что процесс деградации ТР под воздействием экстремальных токовых нагрузок в значительной степени определяется общим количеством импульсов. Результаты могут быть использованы при создании новых типов ТР. Ceramic thermistors with negative temperature coefficient (NTC) of resistance used for in-vush current protection in secondary power-supply sources have been considered. It was shown that degradation process of NTC thermistors under the action of extreme currents loads in great part by total amounts of pulses is determinated. The results can be used at creating NTC thermistors new types. 2000 Article Деградация керамических терморезисторов в режиме импульсных токовых нагрузок / Н.М. Вакив, Ю. Мацяк, О.Я. Мруз, Ю. Погожельска, О.И. Шпотюк // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2000. — № 2-3. — С. 39-41. — Бібліогр.: 7 назв. — рос. 2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70926 621.316.825 ru Технология и конструирование в электронной аппаратуре Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
collection |
DSpace DC |
language |
Russian |
topic |
Качество и надежность аппаратуры Качество и надежность аппаратуры |
spellingShingle |
Качество и надежность аппаратуры Качество и надежность аппаратуры Вакив, Н.М. Мацяк, Ю. Мруз, О.Я. Погожельска, Ю. Шпотюк, О.И. Деградация керамических терморезисторов в режиме импульсных токовых нагрузок Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
description |
Рассмотрены керамические терморезисторы (ТР) с отрицательным ТКС, применяемые в качестве ограничителей пусковых токов в источниках вторичного электропитания. Показано, что процесс деградации ТР под воздействием экстремальных токовых нагрузок в значительной степени определяется общим количеством импульсов. Результаты могут быть использованы при создании новых типов ТР. |
format |
Article |
author |
Вакив, Н.М. Мацяк, Ю. Мруз, О.Я. Погожельска, Ю. Шпотюк, О.И. |
author_facet |
Вакив, Н.М. Мацяк, Ю. Мруз, О.Я. Погожельска, Ю. Шпотюк, О.И. |
author_sort |
Вакив, Н.М. |
title |
Деградация керамических терморезисторов в режиме импульсных токовых нагрузок |
title_short |
Деградация керамических терморезисторов в режиме импульсных токовых нагрузок |
title_full |
Деградация керамических терморезисторов в режиме импульсных токовых нагрузок |
title_fullStr |
Деградация керамических терморезисторов в режиме импульсных токовых нагрузок |
title_full_unstemmed |
Деградация керамических терморезисторов в режиме импульсных токовых нагрузок |
title_sort |
деградация керамических терморезисторов в режиме импульсных токовых нагрузок |
publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
publishDate |
2000 |
topic_facet |
Качество и надежность аппаратуры |
url |
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70926 |
citation_txt |
Деградация керамических терморезисторов в режиме импульсных токовых нагрузок / Н.М. Вакив, Ю. Мацяк, О.Я. Мруз, Ю. Погожельска, О.И. Шпотюк // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2000. — № 2-3. — С. 39-41. — Бібліогр.: 7 назв. — рос. |
series |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
work_keys_str_mv |
AT vakivnm degradaciâkeramičeskihtermorezistorovvrežimeimpulʹsnyhtokovyhnagruzok AT macâkû degradaciâkeramičeskihtermorezistorovvrežimeimpulʹsnyhtokovyhnagruzok AT mruzoâ degradaciâkeramičeskihtermorezistorovvrežimeimpulʹsnyhtokovyhnagruzok AT pogoželʹskaû degradaciâkeramičeskihtermorezistorovvrežimeimpulʹsnyhtokovyhnagruzok AT špotûkoi degradaciâkeramičeskihtermorezistorovvrežimeimpulʹsnyhtokovyhnagruzok |
first_indexed |
2023-10-18T18:59:35Z |
last_indexed |
2023-10-18T18:59:35Z |
_version_ |
1796145714326142976 |