2025-02-22T23:37:57-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: Query fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-76014%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-22T23:37:57-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: => GET http://localhost:8983/solr/biblio/select?fl=%2A&wt=json&json.nl=arrarr&q=id%3A%22irk-123456789-76014%22&qt=morelikethis&rows=5
2025-02-22T23:37:57-05:00 DEBUG: VuFindSearch\Backend\Solr\Connector: <= 200 OK
2025-02-22T23:37:57-05:00 DEBUG: Deserialized SOLR response
Особливості топометрії наноструктур методою атомно-силової мікроскопії

Особливості топометрії наноструктур методою атомно-силової мікроскопії

На прикладі реальних наноструктурованих поверхонь проаналізовано характерні особливості застосування метод мінімізації «ефекту зонду» в топометричних дослідженнях методою сканівної атомно-силової мікроскопії (АСМ). Подано практичні параметри оцінки ефективности комп’ютерної реконструкції зображень...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Authors: Литвин, О.С., Литвин, П.М., Прокопенко, І.В., Шеремета, Т.І.
Format: Article
Language:Ukrainian
Published: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2008
Series:Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/76014
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!

Internet

http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/76014

Similar Items