Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction
It is shown that the diffraction on a polycrystal can be used for investigation and diagnostics of X-ray radiation emitted in a forward direction by relativistic charged particles moving in crystalline or other targets or fields. Methods for measuring radiation spectral density, divergence, and lin...
Збережено в:
Дата: | 2004 |
---|---|
Автор: | |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2004
|
Назва видання: | Вопросы атомной науки и техники |
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/80444 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction / A.V. Shchagin // Вопросы атомной науки и техники. — 2004. — № 4. — С. 76-79. — Бібліогр.: 8 назв. — англ. |