Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени
В статье рассматривается проблема контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени. Предлагается использование метода сечений для формирования выборки и последующей обработки дальнейших изображений....
Збережено в:
Дата: | 2009 |
---|---|
Автори: | , , , , |
Формат: | Стаття |
Мова: | Russian |
Опубліковано: |
Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України
2009
|
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/8194 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени / Ю.Ф. Кутаев, Л.И. Тимченко, Н.И. Кокряцкая, В.А. Губернаторов, А.А. Поплавский // Штучний інтелект. — 2009. — № 4. — С. 548-554. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |