Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени

В статье рассматривается проблема контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени. Предлагается использование метода сечений для формирования выборки и последующей обработки дальнейших изображений....

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Дата:2009
Автори: Кутаев, Ю.Ф., Тимченко, Л.И., Кокряцкая, Н.И., Губернаторов, В.А., Поплавский, А.А.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України 2009
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/8194
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени / Ю.Ф. Кутаев, Л.И. Тимченко, Н.И. Кокряцкая, В.А. Губернаторов, А.А. Поплавский // Штучний інтелект. — 2009. — № 4. — С. 548-554. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine