Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени

• Дата: 2009
• Автори: Кутаев, Ю.Ф., Тимченко, Л.И., Кокряцкая, Н.И., Губернаторов, В.А., Поплавский, А.А.
• Формат: Стаття
• Мова: Russian
• Опубліковано: Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України 2009
• Теми: Распознавание образов. Цифровая обработка сигналов
• Онлайн доступ: http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/8194
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени / Ю.Ф. Кутаев, Л.И. Тимченко, Н.И. Кокряцкая, В.А. Губернаторов, А.А. Поплавский // Штучний інтелект. — 2009. — № 4. — С. 548-554. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

В статье рассматривается проблема контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени. Предлагается использование метода сечений для формирования выборки и последующей обработки дальнейших изображений.