Influence of radiation-induced defects on CdTe and CdZnTe detectors properties
The correlation between radiation-induced defects, arising in CdTe:Cl and CdZnTe after the hard X-ray irradiation, and charges collection efficiency of detectors based on these materials has been investigated by means of computer simulation method. The role of radiation-induced defects during degrad...
Збережено в:
Дата: | 2015 |
---|---|
Автор: | |
Формат: | Стаття |
Мова: | English |
Опубліковано: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2015
|
Назва видання: | Вопросы атомной науки и техники |
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/82434 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Influence of radiation-induced defects on CdTe and CdZnTe detectors properties / A.I. Kondrik // Вопросы атомной науки и техники. — 2015. — № 2. — С. 18-24. — Бібліогр.: 19 назв. — англ. |