Зависимость концентрации электронных центров окраски от состояния дислокационной структуры облученных кристаллов LiF

Изучено оптическое поглощение излучения для облученных до дозы 1057 Р кристаллов LiF с величинами предварительной деформации 0,155 и 1,5%. Сделан вывод о присутствии F-центров в облученных кристаллах, определена объемная плотность указанных радиационных дефектов. На основании экспериментальных данны...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Видавець:Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
Дата:2015
Автори: Петченко, Г.А., Петченко, А.М.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2015
Назва видання:Вопросы атомной науки и техники
Теми:
Онлайн доступ:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/82435
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Цитувати:Зависимость концентрации электронных центров окраски от состояния дислокационной структуры облученных кристаллов LiF / Г.А. Петченко, А.М. Петченко // Вопросы атомной науки и техники. — 2015. — № 2. — С. 25-28. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.

Репозиторії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-82435
record_format dspace
spelling irk-123456789-824352015-05-30T03:01:57Z Зависимость концентрации электронных центров окраски от состояния дислокационной структуры облученных кристаллов LiF Петченко, Г.А. Петченко, А.М. Физика радиационных повреждений и явлений в твердых телах Изучено оптическое поглощение излучения для облученных до дозы 1057 Р кристаллов LiF с величинами предварительной деформации 0,155 и 1,5%. Сделан вывод о присутствии F-центров в облученных кристаллах, определена объемная плотность указанных радиационных дефектов. На основании экспериментальных данных, полученных в настоящей и предыдущих работах, изучены деформационные зависимости спектрального показателя ослабления Kλ и концентрации F-центров NF. Вивчено оптичне поглинання випромінювання для опромінених до дози 1057 Р кристалів LiF з величи-нами попередньої деформації 0,155 и 1,5%. Зроблено висновок щодо присутності F-центрів в опромінених кристалах, визначено об’ємну густину вказаних радіаційних дефектів. На підставі екпериментальних даних, отриманих у даній та попередніх роботах, вивчено деформаційні залежності спектрального показника ослаблення Kλ та концентрації F-центрів NF. The optical radiation absorption has been investigated for LiF crystals preliminary deformed to the level of 0.155 and 1.5% under irradiation to a dose of 1057 R. A conclusion on the presence of F-centers in irradiated crystals is drawn. The volume density of the observed radiation defects is evaluated. Basing on the experimental data of the present and previous papers the deformation dependences of the spectral damping coefficient Kλ and the concentration NF of F-centers were investigated. 2015 Article Зависимость концентрации электронных центров окраски от состояния дислокационной структуры облученных кристаллов LiF / Г.А. Петченко, А.М. Петченко // Вопросы атомной науки и техники. — 2015. — № 2. — С. 25-28. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. 1562-6016 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/82435 539.67:539.374 ru Вопросы атомной науки и техники Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Russian
topic Физика радиационных повреждений и явлений в твердых телах
Физика радиационных повреждений и явлений в твердых телах
spellingShingle Физика радиационных повреждений и явлений в твердых телах
Физика радиационных повреждений и явлений в твердых телах
Петченко, Г.А.
Петченко, А.М.
Зависимость концентрации электронных центров окраски от состояния дислокационной структуры облученных кристаллов LiF
Вопросы атомной науки и техники
description Изучено оптическое поглощение излучения для облученных до дозы 1057 Р кристаллов LiF с величинами предварительной деформации 0,155 и 1,5%. Сделан вывод о присутствии F-центров в облученных кристаллах, определена объемная плотность указанных радиационных дефектов. На основании экспериментальных данных, полученных в настоящей и предыдущих работах, изучены деформационные зависимости спектрального показателя ослабления Kλ и концентрации F-центров NF.
format Article
author Петченко, Г.А.
Петченко, А.М.
author_facet Петченко, Г.А.
Петченко, А.М.
author_sort Петченко, Г.А.
title Зависимость концентрации электронных центров окраски от состояния дислокационной структуры облученных кристаллов LiF
title_short Зависимость концентрации электронных центров окраски от состояния дислокационной структуры облученных кристаллов LiF
title_full Зависимость концентрации электронных центров окраски от состояния дислокационной структуры облученных кристаллов LiF
title_fullStr Зависимость концентрации электронных центров окраски от состояния дислокационной структуры облученных кристаллов LiF
title_full_unstemmed Зависимость концентрации электронных центров окраски от состояния дислокационной структуры облученных кристаллов LiF
title_sort зависимость концентрации электронных центров окраски от состояния дислокационной структуры облученных кристаллов lif
publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
publishDate 2015
topic_facet Физика радиационных повреждений и явлений в твердых телах
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/82435
citation_txt Зависимость концентрации электронных центров окраски от состояния дислокационной структуры облученных кристаллов LiF / Г.А. Петченко, А.М. Петченко // Вопросы атомной науки и техники. — 2015. — № 2. — С. 25-28. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.
series Вопросы атомной науки и техники
work_keys_str_mv AT petčenkoga zavisimostʹkoncentraciiélektronnyhcentrovokraskiotsostoâniâdislokacionnojstrukturyoblučennyhkristallovlif
AT petčenkoam zavisimostʹkoncentraciiélektronnyhcentrovokraskiotsostoâniâdislokacionnojstrukturyoblučennyhkristallovlif
first_indexed 2024-03-30T08:18:55Z
last_indexed 2024-03-30T08:18:55Z
_version_ 1796146876540518400