Локализация неисправных подсхем в линейных и нелинейных схемах электронных устройств
Diagnosing the operational state of electronic devices (ED) for various purposes is an important technical task. In the production plan and in the process of implementation, this task is significantly complicated by the need to obtain estimates of the state of the diagnosed object directly in the co...
Збережено в:
| Видавець: | Kamianets-Podilskyi National Ivan Ohiienko University |
|---|---|
| Дата: | 2017 |
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | rus |
| Опубліковано: |
Kamianets-Podilskyi National Ivan Ohiienko University
2017
|
| Онлайн доступ: | http://mcm-tech.kpnu.edu.ua/article/view/121748 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|