Влияние криогенной очистки гелия в кристаллизационной камере на образование частиц второй фазы в сапфире

Исследовано влияние криогенной очистки гелия в кристаллизационной камере на скопление микрочастиц второй фазы в сапфире. Показано, что с улучшением очистки гелия плотность частиц уменьшается. При подаче струи очищенного гелия в полость теплового узла скопления микрочастиц практически не образуются....

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Вопросы атомной науки и техники
Datum:2008
Hauptverfasser: Катрич, Н.П., Будников, А.Т., Воробьев, А.Е., Кривоногов, С.И., Мирошников, Ю.П.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Інститут монокристалів НАН України 2008
Schlagworte:
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110753
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Влияние криогенной очистки гелия в кристаллизационной камере на образование частиц второй фазы в сапфире / Н.П. Катрич, А.Т. Будников, А.Е. Воробьев, С.И. Кривоногов, Ю.П. Мирошников // Вопросы атомной науки и техники. — 2008. — № 1. — С. 24-26. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-110753
record_format dspace
spelling Катрич, Н.П.
Будников, А.Т.
Воробьев, А.Е.
Кривоногов, С.И.
Мирошников, Ю.П.
2017-01-06T10:01:24Z
2017-01-06T10:01:24Z
2008
Влияние криогенной очистки гелия в кристаллизационной камере на образование частиц второй фазы в сапфире / Н.П. Катрич, А.Т. Будников, А.Е. Воробьев, С.И. Кривоногов, Ю.П. Мирошников // Вопросы атомной науки и техники. — 2008. — № 1. — С. 24-26. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.
1562-6016
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110753
546.65.623
Исследовано влияние криогенной очистки гелия в кристаллизационной камере на скопление микрочастиц второй фазы в сапфире. Показано, что с улучшением очистки гелия плотность частиц уменьшается. При подаче струи очищенного гелия в полость теплового узла скопления микрочастиц практически не образуются. Химический анализ показал, что микрочастицы состоят преимущественно из атомов вольфрама. Зарождаются микрочастицы в микропорах расплава. В процессе кристаллизации они врастают в сапфир. Загрязнение расплава атомами вольфрама происходит в результате его конвекционного перемешивания.
Досліджено вплив криогенної очистки гелію у кристалізаційній камері на виникнення скупчень мікрочасток другої фази у сапфірі. Показано, що з покращенням очистки гелію скупчення мікрочасток зменшуються. При подачі струї очищеного гелію у порожнину теплового вузла скупчення мікрочасток практично не виникають. Хімічний аналіз показав, що мікрочастки складаються здебільшого з атомів вольфраму. зароджуються вони в мікропорах розплаву. При кристалізації мікрочастки вростають в сапфір. Розплав забруднюється атомами вольфраму внаслідок його конвекційного перемішування.
Influencing of the cryogenic cleaning of helium in a crystallization chamber on accumulation of microparticles of the second phase in a sapphire is explored. It is shown, that with the improvement of cleaning of helium the closeness of particles diminishes. At the serve of stream of the cleared helium in the cavity of thermal site of accumulation of microparticles do not appear practically. The chemical analysis showed that microparticles consisted mainly of atoms of tungsten. Microparticles in microvoids of fusion are engendered. In the process of crystallization they grow in a sapphire. Contamination of fusion by the atoms of tungsten takes place as a result of his convection interfusion.
Авторы работы выражают искреннюю благодарность Л.В. Глушковой за проведенный химический анализ монокристаллов сапфира, выращенных в атмосфере гелия.
ru
Інститут монокристалів НАН України
Вопросы атомной науки и техники
Чистые материалы и вакуумные технологии
Влияние криогенной очистки гелия в кристаллизационной камере на образование частиц второй фазы в сапфире
Вплив криогенної очистки гелію у кристалізаційній камері на виникнення часток другої фази у сапфірі
Influencing of the cryogenic cleaning of helium in crystallization chamber on formation of particles of the second phase in a sapphire
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Влияние криогенной очистки гелия в кристаллизационной камере на образование частиц второй фазы в сапфире
spellingShingle Влияние криогенной очистки гелия в кристаллизационной камере на образование частиц второй фазы в сапфире
Катрич, Н.П.
Будников, А.Т.
Воробьев, А.Е.
Кривоногов, С.И.
Мирошников, Ю.П.
Чистые материалы и вакуумные технологии
title_short Влияние криогенной очистки гелия в кристаллизационной камере на образование частиц второй фазы в сапфире
title_full Влияние криогенной очистки гелия в кристаллизационной камере на образование частиц второй фазы в сапфире
title_fullStr Влияние криогенной очистки гелия в кристаллизационной камере на образование частиц второй фазы в сапфире
title_full_unstemmed Влияние криогенной очистки гелия в кристаллизационной камере на образование частиц второй фазы в сапфире
title_sort влияние криогенной очистки гелия в кристаллизационной камере на образование частиц второй фазы в сапфире
author Катрич, Н.П.
Будников, А.Т.
Воробьев, А.Е.
Кривоногов, С.И.
Мирошников, Ю.П.
author_facet Катрич, Н.П.
Будников, А.Т.
Воробьев, А.Е.
Кривоногов, С.И.
Мирошников, Ю.П.
topic Чистые материалы и вакуумные технологии
topic_facet Чистые материалы и вакуумные технологии
publishDate 2008
language Russian
container_title Вопросы атомной науки и техники
publisher Інститут монокристалів НАН України
format Article
title_alt Вплив криогенної очистки гелію у кристалізаційній камері на виникнення часток другої фази у сапфірі
Influencing of the cryogenic cleaning of helium in crystallization chamber on formation of particles of the second phase in a sapphire
description Исследовано влияние криогенной очистки гелия в кристаллизационной камере на скопление микрочастиц второй фазы в сапфире. Показано, что с улучшением очистки гелия плотность частиц уменьшается. При подаче струи очищенного гелия в полость теплового узла скопления микрочастиц практически не образуются. Химический анализ показал, что микрочастицы состоят преимущественно из атомов вольфрама. Зарождаются микрочастицы в микропорах расплава. В процессе кристаллизации они врастают в сапфир. Загрязнение расплава атомами вольфрама происходит в результате его конвекционного перемешивания. Досліджено вплив криогенної очистки гелію у кристалізаційній камері на виникнення скупчень мікрочасток другої фази у сапфірі. Показано, що з покращенням очистки гелію скупчення мікрочасток зменшуються. При подачі струї очищеного гелію у порожнину теплового вузла скупчення мікрочасток практично не виникають. Хімічний аналіз показав, що мікрочастки складаються здебільшого з атомів вольфраму. зароджуються вони в мікропорах розплаву. При кристалізації мікрочастки вростають в сапфір. Розплав забруднюється атомами вольфраму внаслідок його конвекційного перемішування. Influencing of the cryogenic cleaning of helium in a crystallization chamber on accumulation of microparticles of the second phase in a sapphire is explored. It is shown, that with the improvement of cleaning of helium the closeness of particles diminishes. At the serve of stream of the cleared helium in the cavity of thermal site of accumulation of microparticles do not appear practically. The chemical analysis showed that microparticles consisted mainly of atoms of tungsten. Microparticles in microvoids of fusion are engendered. In the process of crystallization they grow in a sapphire. Contamination of fusion by the atoms of tungsten takes place as a result of his convection interfusion.
issn 1562-6016
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/110753
citation_txt Влияние криогенной очистки гелия в кристаллизационной камере на образование частиц второй фазы в сапфире / Н.П. Катрич, А.Т. Будников, А.Е. Воробьев, С.И. Кривоногов, Ю.П. Мирошников // Вопросы атомной науки и техники. — 2008. — № 1. — С. 24-26. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT katričnp vliâniekriogennoiočistkigeliâvkristallizacionnoikamerenaobrazovaniečasticvtoroifazyvsapfire
AT budnikovat vliâniekriogennoiočistkigeliâvkristallizacionnoikamerenaobrazovaniečasticvtoroifazyvsapfire
AT vorobʹevae vliâniekriogennoiočistkigeliâvkristallizacionnoikamerenaobrazovaniečasticvtoroifazyvsapfire
AT krivonogovsi vliâniekriogennoiočistkigeliâvkristallizacionnoikamerenaobrazovaniečasticvtoroifazyvsapfire
AT mirošnikovûp vliâniekriogennoiočistkigeliâvkristallizacionnoikamerenaobrazovaniečasticvtoroifazyvsapfire
AT katričnp vplivkriogennoíočistkigelíûukristalízacíiníikamerínaviniknennâčastokdrugoífaziusapfírí
AT budnikovat vplivkriogennoíočistkigelíûukristalízacíiníikamerínaviniknennâčastokdrugoífaziusapfírí
AT vorobʹevae vplivkriogennoíočistkigelíûukristalízacíiníikamerínaviniknennâčastokdrugoífaziusapfírí
AT krivonogovsi vplivkriogennoíočistkigelíûukristalízacíiníikamerínaviniknennâčastokdrugoífaziusapfírí
AT mirošnikovûp vplivkriogennoíočistkigelíûukristalízacíiníikamerínaviniknennâčastokdrugoífaziusapfírí
AT katričnp influencingofthecryogeniccleaningofheliumincrystallizationchamberonformationofparticlesofthesecondphaseinasapphire
AT budnikovat influencingofthecryogeniccleaningofheliumincrystallizationchamberonformationofparticlesofthesecondphaseinasapphire
AT vorobʹevae influencingofthecryogeniccleaningofheliumincrystallizationchamberonformationofparticlesofthesecondphaseinasapphire
AT krivonogovsi influencingofthecryogeniccleaningofheliumincrystallizationchamberonformationofparticlesofthesecondphaseinasapphire
AT mirošnikovûp influencingofthecryogeniccleaningofheliumincrystallizationchamberonformationofparticlesofthesecondphaseinasapphire
first_indexed 2025-12-07T20:29:37Z
last_indexed 2025-12-07T20:29:37Z
_version_ 1850882787557507072