Characteristics of interface corrugations in short-period GaAs/AlAs superlattices
GaAs/AlAs supelattices with corrugated interfaces have been investigated by the polarized photoluminescence method. Using the theoretical approach, which associates the linear polarization of exciton photoluminescence with the corrugation parameters, experimental results have been fitted to determin...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
|---|---|
| Datum: | 1998 |
| Hauptverfasser: | , , , , , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
1998
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/114668 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Characteristics of interface corrugations in short-period GaAs/AlAs superlattices / L. Daweritz, H. Grahn, R. Hey, B. Jenichen, K. Ploog, D. Korbutyak, S. Krylyuk, Yu. Kryuchenko, V. Litovchenko // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 1998. — Т. 1, № 1. — С. 45-49. — Бібліогр.: 12 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| id |
nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-114668 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
Daweritz, L. Grahn, H. Hey, R. Jenichen, B. Ploog, K. Korbutyak, D. Krylyuk, S. Kryuchenko, Yu. Litovchenko, V. 2017-03-11T16:09:34Z 2017-03-11T16:09:34Z 1998 Characteristics of interface corrugations in short-period GaAs/AlAs superlattices / L. Daweritz, H. Grahn, R. Hey, B. Jenichen, K. Ploog, D. Korbutyak, S. Krylyuk, Yu. Kryuchenko, V. Litovchenko // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 1998. — Т. 1, № 1. — С. 45-49. — Бібліогр.: 12 назв. — англ. 1560-8034 PACS 68.65. https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/114668 621.315 GaAs/AlAs supelattices with corrugated interfaces have been investigated by the polarized photoluminescence method. Using the theoretical approach, which associates the linear polarization of exciton photoluminescence with the corrugation parameters, experimental results have been fitted to determine the height and lateral extension of corrugations. Методом поляризованої фотолюмінесценції досліджені надгратки GaAs/AlAs з коругованими гетеромережами. Співставляючи експериментальні результати з теоретичними розрахунками на основі моделі, яка пов'язує ступінь лінійної поляризації екситонної фотолюмінесценції з параметрами коругованостей, визначені висота та латеральна протяжність коругованостей. Методом поляризованной фотолюминесценции исследованы сверхрешетки GaAs/AlAs с корругированными гетерограницами. Путем сравнения експериментальных результатов с теоретическими расчетами, базирующимися на модели, которая связывает степень линейной поляризации экситонной фотолюминесценции з параметрами корругованностей, определены высота и латеральная протяженность корругованностей. This work was supported by a NATO Linkage Grant and by the Ukrainian Committee for Science and Technology. en Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics Characteristics of interface corrugations in short-period GaAs/AlAs superlattices Характеристики коругованостi інтерфейсу в короткоперіодних надгратках GaAs/AlAs Характеристики корругированности интерфейса в короткопериодных сверхрешетках GaAs/AlAs Article published earlier |
| institution |
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| collection |
DSpace DC |
| title |
Characteristics of interface corrugations in short-period GaAs/AlAs superlattices |
| spellingShingle |
Characteristics of interface corrugations in short-period GaAs/AlAs superlattices Daweritz, L. Grahn, H. Hey, R. Jenichen, B. Ploog, K. Korbutyak, D. Krylyuk, S. Kryuchenko, Yu. Litovchenko, V. |
| title_short |
Characteristics of interface corrugations in short-period GaAs/AlAs superlattices |
| title_full |
Characteristics of interface corrugations in short-period GaAs/AlAs superlattices |
| title_fullStr |
Characteristics of interface corrugations in short-period GaAs/AlAs superlattices |
| title_full_unstemmed |
Characteristics of interface corrugations in short-period GaAs/AlAs superlattices |
| title_sort |
characteristics of interface corrugations in short-period gaas/alas superlattices |
| author |
Daweritz, L. Grahn, H. Hey, R. Jenichen, B. Ploog, K. Korbutyak, D. Krylyuk, S. Kryuchenko, Yu. Litovchenko, V. |
| author_facet |
Daweritz, L. Grahn, H. Hey, R. Jenichen, B. Ploog, K. Korbutyak, D. Krylyuk, S. Kryuchenko, Yu. Litovchenko, V. |
| publishDate |
1998 |
| language |
English |
| container_title |
Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics |
| publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України |
| format |
Article |
| title_alt |
Характеристики коругованостi інтерфейсу в короткоперіодних надгратках GaAs/AlAs Характеристики корругированности интерфейса в короткопериодных сверхрешетках GaAs/AlAs |
| description |
GaAs/AlAs supelattices with corrugated interfaces have been investigated by the polarized photoluminescence method. Using the theoretical approach, which associates the linear polarization of exciton photoluminescence with the corrugation parameters, experimental results have been fitted to determine the height and lateral extension of corrugations.
Методом поляризованої фотолюмінесценції досліджені надгратки GaAs/AlAs з коругованими гетеромережами. Співставляючи експериментальні результати з теоретичними розрахунками на основі моделі, яка пов'язує ступінь лінійної поляризації екситонної фотолюмінесценції з параметрами коругованостей, визначені висота та латеральна протяжність коругованостей.
Методом поляризованной фотолюминесценции исследованы сверхрешетки GaAs/AlAs с корругированными гетерограницами. Путем сравнения експериментальных результатов с теоретическими расчетами, базирующимися на модели, которая связывает степень линейной поляризации экситонной фотолюминесценции з параметрами корругованностей, определены высота и латеральная протяженность корругованностей.
|
| issn |
1560-8034 |
| url |
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/114668 |
| citation_txt |
Characteristics of interface corrugations in short-period GaAs/AlAs superlattices / L. Daweritz, H. Grahn, R. Hey, B. Jenichen, K. Ploog, D. Korbutyak, S. Krylyuk, Yu. Kryuchenko, V. Litovchenko // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 1998. — Т. 1, № 1. — С. 45-49. — Бібліогр.: 12 назв. — англ. |
| work_keys_str_mv |
AT daweritzl characteristicsofinterfacecorrugationsinshortperiodgaasalassuperlattices AT grahnh characteristicsofinterfacecorrugationsinshortperiodgaasalassuperlattices AT heyr characteristicsofinterfacecorrugationsinshortperiodgaasalassuperlattices AT jenichenb characteristicsofinterfacecorrugationsinshortperiodgaasalassuperlattices AT ploogk characteristicsofinterfacecorrugationsinshortperiodgaasalassuperlattices AT korbutyakd characteristicsofinterfacecorrugationsinshortperiodgaasalassuperlattices AT krylyuks characteristicsofinterfacecorrugationsinshortperiodgaasalassuperlattices AT kryuchenkoyu characteristicsofinterfacecorrugationsinshortperiodgaasalassuperlattices AT litovchenkov characteristicsofinterfacecorrugationsinshortperiodgaasalassuperlattices AT daweritzl harakteristikikorugovanostiínterfeisuvkorotkoperíodnihnadgratkahgaasalas AT grahnh harakteristikikorugovanostiínterfeisuvkorotkoperíodnihnadgratkahgaasalas AT heyr harakteristikikorugovanostiínterfeisuvkorotkoperíodnihnadgratkahgaasalas AT jenichenb harakteristikikorugovanostiínterfeisuvkorotkoperíodnihnadgratkahgaasalas AT ploogk harakteristikikorugovanostiínterfeisuvkorotkoperíodnihnadgratkahgaasalas AT korbutyakd harakteristikikorugovanostiínterfeisuvkorotkoperíodnihnadgratkahgaasalas AT krylyuks harakteristikikorugovanostiínterfeisuvkorotkoperíodnihnadgratkahgaasalas AT kryuchenkoyu harakteristikikorugovanostiínterfeisuvkorotkoperíodnihnadgratkahgaasalas AT litovchenkov harakteristikikorugovanostiínterfeisuvkorotkoperíodnihnadgratkahgaasalas AT daweritzl harakteristikikorrugirovannostiinterfeisavkorotkoperiodnyhsverhrešetkahgaasalas AT grahnh harakteristikikorrugirovannostiinterfeisavkorotkoperiodnyhsverhrešetkahgaasalas AT heyr harakteristikikorrugirovannostiinterfeisavkorotkoperiodnyhsverhrešetkahgaasalas AT jenichenb harakteristikikorrugirovannostiinterfeisavkorotkoperiodnyhsverhrešetkahgaasalas AT ploogk harakteristikikorrugirovannostiinterfeisavkorotkoperiodnyhsverhrešetkahgaasalas AT korbutyakd harakteristikikorrugirovannostiinterfeisavkorotkoperiodnyhsverhrešetkahgaasalas AT krylyuks harakteristikikorrugirovannostiinterfeisavkorotkoperiodnyhsverhrešetkahgaasalas AT kryuchenkoyu harakteristikikorrugirovannostiinterfeisavkorotkoperiodnyhsverhrešetkahgaasalas AT litovchenkov harakteristikikorrugirovannostiinterfeisavkorotkoperiodnyhsverhrešetkahgaasalas |
| first_indexed |
2025-12-07T17:24:56Z |
| last_indexed |
2025-12-07T17:24:56Z |
| _version_ |
1850871168553189376 |