Сканирующий ионный гелиевый микроскоп

Описан опыт использования сканирующего гелиевого микроскопа ORION (Carl Zeiss) в исследованиях, проводимых в Междисциплинарном Ресурсном Центре по направлению «нанотехнологии» (Санкт-Петербург, Россия). Затронуты вопросы о формировании и стабильности гелиевого одноатомного источника, о процессах вза...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Наука та інновації
Date:2012
Main Author: Петров, Ю.В.
Format: Article
Language:Russian
Published: Видавничий дім "Академперіодика" НАН України 2012
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/116085
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Сканирующий ионный гелиевый микроскоп / Ю.В. Петров // Наука та інновації. — 2012. — Т. 8, № 2. — С. 23-25. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:Описан опыт использования сканирующего гелиевого микроскопа ORION (Carl Zeiss) в исследованиях, проводимых в Междисциплинарном Ресурсном Центре по направлению «нанотехнологии» (Санкт-Петербург, Россия). Затронуты вопросы о формировании и стабильности гелиевого одноатомного источника, о процессах взаимодействия ионов гелия с исследуемым веществом; описаны возможности применения ионной гелиевой микроскопии и литографии. Описано досвід використання скануючого гелієвого мікроскопа ORION (Carl Zeiss) в дослідженнях, що проводяться в Міждисциплінарному Ресурсному Центрі за напрямком «нанотехнології» (С-Петербург, Росія). Порушені питання про формування та стабільність гелієвого одноатомного джерела, про процеси взаємодії іонів гелію з досліджуваною речовиною; описані можливості застосування іонної гелієвої мікроскопії та літографії. This article describes the experience of using helium microscope ORION (Carl Zeiss) at the Interdisciplinary Resource Center of «Nanotechnology» (St.Petersburg, Russia). Author discusses the formation and stability of helium single atom source, the processes of interaction of helium ions with the investigated substance, describes the possibility of applying helium ion microscopy and lithography.
ISSN:1815-2066