Tin doping effect on crystallization of amorphous silicon obtained by vapor deposition in vacuum

The influence of tin impurity on amorphous silicon crystallization was
 investigated using the methods of Raman scattering, Auger spectroscopy at ion etching,
 scanning electron microscopy and X-ray fluorescence microanalysis in thin films of
 Si:Sn alloy manufactured by ther...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Дата:2013
Автори: Neimash, V.B., Poroshin, V.M., Shepeliavyi, P.Ye., Yukhymchuk, V.O., Melnyk, V.V., Makara, M.A., Kuzmich, A.G.
Формат: Стаття
Мова:Англійська
Опубліковано: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2013
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/117819
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Tin doping effect on crystallization of amorphous silicon
 obtained by vapor deposition in vacuum / V.B. Neimash, V.M. Poroshin, P.Ye. Shepeliavyi, V.O. Yukhymchuk, V.V. Melnyk, V.A. Makara, A.G. Kuzmich // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2013. — Т. 16, № 4. — С. 331-335. — Бібліогр.: 16 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine