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Polarization and angular peculiarities of IR emission of thin film semiconductor structures

In this paper thermal radiation from plane-parallel semiconductor layers was investigated. Shown is that spectra of thermal radiation from structures has an oscillating character caused by multi-beam interference. It was shown that the density of thermal radiation, at its interference maximum, can b...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics
Datum:	2003
Hauptverfasser:	Kollyukh, O.G., Liptuga, A.I., Morozhenko, V.O., Pipa, V.I.
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2003
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/118020
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Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	Polarization and angular peculiarities of IR emission of thin film semiconductor structures / O.G. Kollyukh, A.I. Liptuga, V.O. Morozhenko, V.I. Pipa // Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics. — 2003. — Т. 6, № 2. — С. 210-213. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

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